Details
| Original language | German |
|---|---|
| Patent number | DE102017101446 |
| IPC | G01N 21/ 359 A I |
| Priority date | 25 Jan 2017 |
| Filing date | 25 Jan 2017 |
| Publication status | Published - 26 Jul 2018 |
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Messsystem (1) zur topographischen Messung eines außerhalb des optischen Messsystems (1) erhitzten Messobjekts (4), insbesondere eines außerhalb des optischen Messsystems (1) zur und/oder mittels Warmumformung erhitzten Werkstücks (4), mit einer optischen Messeinrichtung (3), welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) optisch zu erfassen, und mit einer Messobjektaufnahme (2), welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) derart aufzunehmen, so dass das erhitzte Messobjekt (4) von der optischen Messeinrichtung (3) optisch erfasst werden kann, wobei die Messobjektaufnahme (2) eine gasdicht schließbare Kammer (29) aufweist, welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) in sich aufzunehmen, wobei die gasdicht schließbare Kammer (29) ferner ausgebildet ist, im geschlossenen Zustand vakuumiert und/oder mit einem Gas mit einer vergleichsweise geringen Dichte gefüllt zu werden.
Cite this
- Standard
- Harvard
- Apa
- Vancouver
- BibTeX
- RIS
Patent No.: DE102017101446. Jul 26, 2018.
Research output: Patent
}
TY - PAT
T1 - Optisches Messsystem
AU - Reithmeier, Eduard
AU - Müller, Thomas
AU - Beermann, Rüdiger
PY - 2018/7/26
Y1 - 2018/7/26
N2 - Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Messsystem (1) zur topographischen Messung eines außerhalb des optischen Messsystems (1) erhitzten Messobjekts (4), insbesondere eines außerhalb des optischen Messsystems (1) zur und/oder mittels Warmumformung erhitzten Werkstücks (4), mit einer optischen Messeinrichtung (3), welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) optisch zu erfassen, und mit einer Messobjektaufnahme (2), welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) derart aufzunehmen, so dass das erhitzte Messobjekt (4) von der optischen Messeinrichtung (3) optisch erfasst werden kann, wobei die Messobjektaufnahme (2) eine gasdicht schließbare Kammer (29) aufweist, welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) in sich aufzunehmen, wobei die gasdicht schließbare Kammer (29) ferner ausgebildet ist, im geschlossenen Zustand vakuumiert und/oder mit einem Gas mit einer vergleichsweise geringen Dichte gefüllt zu werden.
AB - Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Messsystem (1) zur topographischen Messung eines außerhalb des optischen Messsystems (1) erhitzten Messobjekts (4), insbesondere eines außerhalb des optischen Messsystems (1) zur und/oder mittels Warmumformung erhitzten Werkstücks (4), mit einer optischen Messeinrichtung (3), welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) optisch zu erfassen, und mit einer Messobjektaufnahme (2), welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) derart aufzunehmen, so dass das erhitzte Messobjekt (4) von der optischen Messeinrichtung (3) optisch erfasst werden kann, wobei die Messobjektaufnahme (2) eine gasdicht schließbare Kammer (29) aufweist, welche ausgebildet ist, das erhitzte Messobjekt (4) in sich aufzunehmen, wobei die gasdicht schließbare Kammer (29) ferner ausgebildet ist, im geschlossenen Zustand vakuumiert und/oder mit einem Gas mit einer vergleichsweise geringen Dichte gefüllt zu werden.
M3 - Patent
M1 - DE102017101446
Y2 - 2017/01/25
ER -