Details
| Translated title of the contribution | Measuring the aging condition of LEDs in the installed state via their electrical magnitudes and the reliability prediction |
|---|---|
| Original language | German |
| Pages (from-to) | 159-172 |
| Number of pages | 14 |
| Journal | VDI Berichte |
| Volume | 2377 |
| Publication status | Published - 2021 |
| Event | 30th VDI Symposium on Technical Reliability, 2021 - Virtual, Online Duration: 27 Apr 2021 → 28 Apr 2021 |
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Messung des Alterungszustand von LEDS im verbauten Zustand über ihre elektrischen Größen und die Vorhersage der Zuverlässigkeit. / Weigt, Benjamin; Homeyer, Kai; Lachmayer, Roland.
In: VDI Berichte, Vol. 2377, 2021, p. 159-172.
In: VDI Berichte, Vol. 2377, 2021, p. 159-172.
Research output: Contribution to journal › Conference article › Research › peer review
Weigt, B, Homeyer, K & Lachmayer, R 2021, 'Messung des Alterungszustand von LEDS im verbauten Zustand über ihre elektrischen Größen und die Vorhersage der Zuverlässigkeit', VDI Berichte, vol. 2377, pp. 159-172. https://doi.org/10.51202/9783181023778-159
Weigt, B., Homeyer, K., & Lachmayer, R. (2021). Messung des Alterungszustand von LEDS im verbauten Zustand über ihre elektrischen Größen und die Vorhersage der Zuverlässigkeit. VDI Berichte, 2377, 159-172. https://doi.org/10.51202/9783181023778-159
Weigt B, Homeyer K, Lachmayer R. Messung des Alterungszustand von LEDS im verbauten Zustand über ihre elektrischen Größen und die Vorhersage der Zuverlässigkeit. VDI Berichte. 2021;2377:159-172. doi: 10.51202/9783181023778-159
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author = "Benjamin Weigt and Kai Homeyer and Roland Lachmayer",
year = "2021",
doi = "10.51202/9783181023778-159",
language = "Deutsch",
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TY - JOUR
T1 - Messung des Alterungszustand von LEDS im verbauten Zustand über ihre elektrischen Größen und die Vorhersage der Zuverlässigkeit
AU - Weigt, Benjamin
AU - Homeyer, Kai
AU - Lachmayer, Roland
PY - 2021
Y1 - 2021
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85105737422&partnerID=8YFLogxK
U2 - 10.51202/9783181023778-159
DO - 10.51202/9783181023778-159
M3 - Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift
AN - SCOPUS:85105737422
VL - 2377
SP - 159
EP - 172
JO - VDI Berichte
JF - VDI Berichte
SN - 0083-5560
T2 - 30th VDI Symposium on Technical Reliability, 2021
Y2 - 27 April 2021 through 28 April 2021
ER -