Details
Original language | German |
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Title of host publication | Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering |
Pages | 35-44 |
Number of pages | 10 |
Publication status | Published - 2006 |
Publication series
Name | VDI-Berichte |
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Volume | 1950 |
ISSN (Print) | 0083-5560 |
ASJC Scopus subject areas
- Engineering(all)
- General Engineering
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Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering. 2006. p. 35-44 (VDI-Berichte; Vol. 1950).
Research output: Chapter in book/report/conference proceeding › Contribution to book/anthology › Research › peer review
}
TY - CHAP
T1 - Heißprägen Multifunktionaler Kalibriernormale für die Optische 3D Mikroskopie Beurteilung Gerätespezifischer Eigenschaften
AU - Reithmeier, E.
AU - Frühauf, Joachim
AU - Rahlves, Maik
AU - Kraft, Arne
AU - Seifert, Mario
PY - 2006
Y1 - 2006
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=33846170106&partnerID=8YFLogxK
M3 - Beitrag in Buch/Sammelwerk
AN - SCOPUS:33846170106
SN - 3180919507
SN - 9783180919508
T3 - VDI-Berichte
SP - 35
EP - 44
BT - Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering
ER -