Details
| Translated title of the contribution | Geometric uncertainty analysis of TEM circular coaxial cells |
|---|---|
| Original language | German |
| Title of host publication | EMV 2020 |
| Subtitle of host publication | Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit |
| Editors | Heyno Garbe |
| Pages | 283-290 |
| Number of pages | 8 |
| ISBN (electronic) | 9783863598266 |
| Publication status | Published - 2020 |
| Event | 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020 - Köln, Germany Duration: 17 Mar 2020 → 19 Mar 2020 |
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- Electrical and Electronic Engineering
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Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. / Pham, Hoang Duc; Garbe, Heyno.
EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. ed. / Heyno Garbe. 2020. p. 283-290.
EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. ed. / Heyno Garbe. 2020. p. 283-290.
Research output: Chapter in book/report/conference proceeding › Conference contribution › Research
Pham, HD & Garbe, H 2020, Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. in H Garbe (ed.), EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. pp. 283-290, 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020, Köln, Germany, 17 Mar 2020.
Pham, H. D., & Garbe, H. (2020). Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. In H. Garbe (Ed.), EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit (pp. 283-290)
Pham HD, Garbe H. Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. In Garbe H, editor, EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. 2020. p. 283-290
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@inproceedings{30a406fbf04e4175923e7053eae0ad4b,
title = "Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen",
author = "Pham, {Hoang Duc} and Heyno Garbe",
year = "2020",
language = "Deutsch",
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editor = "Heyno Garbe",
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note = "2020 Internationale Fachmesse und Kongress f{\"u}r Elektromagnetische Vertr{\"a}glichkeit, EMV 2020 ; Conference date: 17-03-2020 Through 19-03-2020",
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Download
TY - GEN
T1 - Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen
AU - Pham, Hoang Duc
AU - Garbe, Heyno
PY - 2020
Y1 - 2020
UR - https://doi.org/10.15488/10002
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85092063779&partnerID=8YFLogxK
M3 - Aufsatz in Konferenzband
AN - SCOPUS:85092063779
SP - 283
EP - 290
BT - EMV 2020
A2 - Garbe, Heyno
T2 - 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020
Y2 - 17 March 2020 through 19 March 2020
ER -