Details
| Original language | German |
|---|---|
| Title of host publication | Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis |
| Place of Publication | Düsseldorf |
| Pages | 81-88 |
| Publication status | Published - 2015 |
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Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. / Matthias, Steffen; Schlobohm, Jochen; Kästner, Markus et al.
Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf, 2015. p. 81-88.
Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf, 2015. p. 81-88.
Research output: Chapter in book/report/conference proceeding › Conference contribution › Research
Matthias, S, Schlobohm, J, Kästner, M & Reithmeier, E 2015, Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. in Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf, pp. 81-88.
Matthias, S., Schlobohm, J., Kästner, M., & Reithmeier, E. (2015). Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. In Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis (pp. 81-88).
Matthias S, Schlobohm J, Kästner M, Reithmeier E. Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. In Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf. 2015. p. 81-88
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@inproceedings{3619e15cdcc547a483fddec3725f9254,
title = "Gegen{\"u}berstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung",
author = "Steffen Matthias and Jochen Schlobohm and Markus K{\"a}stner and Eduard Reithmeier",
year = "2015",
language = "Deutsch",
isbn = "978-3-18-092269-0",
pages = "81--88",
booktitle = "Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Pr{\"u}fprozesse in der industriellen Praxis",
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TY - GEN
T1 - Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung
AU - Matthias, Steffen
AU - Schlobohm, Jochen
AU - Kästner, Markus
AU - Reithmeier, Eduard
PY - 2015
Y1 - 2015
M3 - Aufsatz in Konferenzband
SN - 978-3-18-092269-0
SP - 81
EP - 88
BT - Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis
CY - Düsseldorf
ER -