Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen

Research output: Chapter in book/report/conference proceedingConference contributionResearch

Authors

  • Felix Burghardt
  • Johannes Bohse
  • Heyno Garbe

External Research Organisations

  • University of Applied Sciences and Arts Hannover (HsH)
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Details

Translated title of the contributionDevelopment of direct power injection circuit boards to determine the interference of microcontrollers on the basis of IEMI up to 1 GHz in conducting path structures
Original languageGerman
Title of host publicationCreating a compatible future
EditorsHeyno Garbe
Pages265-272
Number of pages8
ISBN (electronic)9783863598266
Publication statusPublished - 2020
Event2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020 - Köln, Germany
Duration: 17 Mar 202019 Mar 2020

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Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. / Burghardt, Felix; Bohse, Johannes; Garbe, Heyno.
Creating a compatible future. ed. / Heyno Garbe. 2020. p. 265-272.

Research output: Chapter in book/report/conference proceedingConference contributionResearch

Burghardt, F, Bohse, J & Garbe, H 2020, Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. in H Garbe (ed.), Creating a compatible future. pp. 265-272, 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020, Köln, Germany, 17 Mar 2020.
Burghardt, F., Bohse, J., & Garbe, H. (2020). Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. In H. Garbe (Ed.), Creating a compatible future (pp. 265-272)
Burghardt, Felix ; Bohse, Johannes ; Garbe, Heyno. / Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. Creating a compatible future. editor / Heyno Garbe. 2020. pp. 265-272
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TY - GEN

T1 - Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen

AU - Burghardt, Felix

AU - Bohse, Johannes

AU - Garbe, Heyno

PY - 2020

Y1 - 2020

UR - https://doi.org/10.15488/10002

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85092020273&partnerID=8YFLogxK

M3 - Aufsatz in Konferenzband

AN - SCOPUS:85092020273

SP - 265

EP - 272

BT - Creating a compatible future

A2 - Garbe, Heyno

T2 - 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020

Y2 - 17 March 2020 through 19 March 2020

ER -