Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse

Research output: Chapter in book/report/conference proceeding › Conference contribution › Research › peer review

Authors

  • Karl-Philipp Kortmann
  • Alexander Seel
  • Johannes Zumsande
  • Mark Wielitzka
  • Tobias Ortmaier

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Details

Translated title of the contributionDevelopment of a Stochastic Workpiece Tracking within (Semi-)Automated Production Processes
Original languageGerman
Title of host publicationFachtagung Mechatronik 2019
Place of PublicationPaderborn
Pages225-230
Number of pages6
Publication statusPublished - 2019

Abstract

This paper presents a new method for the data-based estimation of the temporal location of individual workpieces or otherdiscrete intermediate products in a complex mechatronic production process. The method shown is particularly suitablefor semi-automated production processes that are not completely digitalized or where hardware-based tracking (e. g. usingRFID) is not possible due to environmental conditions. For this purpose, the production process is first converted into astochastic model based on a directed graph. The optimization algorithm uses the time stamps of the available fieldbusdata of the shopfloors digital process controllers to reconstruct the most probable path of individual objects through theproduction process.In the first test phase, the method has been validated successfully with simulated process data.

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Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. / Kortmann, Karl-Philipp; Seel, Alexander; Zumsande, Johannes et al.
Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn, 2019. p. 225-230.

Research output: Chapter in book/report/conference proceeding › Conference contribution › Research › peer review

Kortmann, K-P, Seel, A, Zumsande, J, Wielitzka, M & Ortmaier, T 2019, Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. in Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn, pp. 225-230. https://doi.org/doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann, K.-P., Seel, A., Zumsande, J., Wielitzka, M., & Ortmaier, T. (2019). Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. In Fachtagung Mechatronik 2019 (pp. 225-230). https://doi.org/doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann KP, Seel A, Zumsande J, Wielitzka M, Ortmaier T. Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. In Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn. 2019. p. 225-230 doi: doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann, Karl-Philipp ; Seel, Alexander ; Zumsande, Johannes et al. / Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn, 2019. pp. 225-230
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title = "Entwicklung eines stochastischen Werkst{\"u}cktrackings f{\"u}r (teil-)automatisierte Produktionsprozesse",
abstract = "In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Sch{\"a}tzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkst{\"u}ckeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere f{\"u}r teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollst{\"a}ndig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumst{\"a}nde nicht m{\"o}glich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zun{\"a}chst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen {\"u}berf{\"u}hrt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verf{\"u}gung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.",
author = "Karl-Philipp Kortmann and Alexander Seel and Johannes Zumsande and Mark Wielitzka and Tobias Ortmaier",
year = "2019",
doi = "doi.org/10.17619/UNIPB/1-775",
language = "Deutsch",
pages = "225--230",
booktitle = "Fachtagung Mechatronik 2019",

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TY - GEN

T1 - Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse

AU - Kortmann, Karl-Philipp

AU - Seel, Alexander

AU - Zumsande, Johannes

AU - Wielitzka, Mark

AU - Ortmaier, Tobias

PY - 2019

Y1 - 2019

N2 - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

AB - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

U2 - doi.org/10.17619/UNIPB/1-775

DO - doi.org/10.17619/UNIPB/1-775

M3 - Aufsatz in Konferenzband

SP - 225

EP - 230

BT - Fachtagung Mechatronik 2019

CY - Paderborn

ER -