Details
| Translated title of the contribution | Effects of heat sinks on the failure behavior of Ics |
|---|---|
| Original language | German |
| Title of host publication | EMV 2016 |
| Subtitle of host publication | Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit |
| Editors | Heyno Garbe |
| Pages | 45-52 |
| Number of pages | 8 |
| ISBN (electronic) | 9783863593964 |
| Publication status | Published - 2016 |
| Event | International Trade Fair and Congress for Electromagnetic Compatibility, EMV 2016 - Düsseldorf, Germany Duration: 23 Feb 2016 → 25 Feb 2016 |
Publication series
| Name | EMV 2016 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit |
|---|---|
| Volume | 2016-February |
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- Engineering(all)
- Electrical and Electronic Engineering
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Auswirkungen von Kühlkörpern auf das Ausfallverhalten von ICs. / Rogowski, Maik; Peikert, Tim; Garbe, Heyno et al.
EMV 2016 : Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. ed. / Heyno Garbe. 2016. p. 45-52 (EMV 2016 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit; Vol. 2016-February).
EMV 2016 : Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. ed. / Heyno Garbe. 2016. p. 45-52 (EMV 2016 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit; Vol. 2016-February).
Research output: Chapter in book/report/conference proceeding › Conference contribution › Research › peer review
Rogowski, M, Peikert, T, Garbe, H & Potthast, S 2016, Auswirkungen von Kühlkörpern auf das Ausfallverhalten von ICs. in H Garbe (ed.), EMV 2016 : Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. EMV 2016 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit, vol. 2016-February, pp. 45-52, International Trade Fair and Congress for Electromagnetic Compatibility, EMV 2016, Düsseldorf, Germany, 23 Feb 2016.
Rogowski, M., Peikert, T., Garbe, H., & Potthast, S. (2016). Auswirkungen von Kühlkörpern auf das Ausfallverhalten von ICs. In H. Garbe (Ed.), EMV 2016 : Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit (pp. 45-52). (EMV 2016 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit; Vol. 2016-February).
Rogowski M, Peikert T, Garbe H, Potthast S. Auswirkungen von Kühlkörpern auf das Ausfallverhalten von ICs. In Garbe H, editor, EMV 2016 : Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. 2016. p. 45-52. (EMV 2016 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit).
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author = "Maik Rogowski and Tim Peikert and Heyno Garbe and Stefan Potthast",
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Download
TY - GEN
T1 - Auswirkungen von Kühlkörpern auf das Ausfallverhalten von ICs
AU - Rogowski, Maik
AU - Peikert, Tim
AU - Garbe, Heyno
AU - Potthast, Stefan
PY - 2016
Y1 - 2016
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85051795717&partnerID=8YFLogxK
M3 - Aufsatz in Konferenzband
AN - SCOPUS:85051795717
T3 - EMV 2016 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit
SP - 45
EP - 52
BT - EMV 2016
A2 - Garbe, Heyno
T2 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Vertraglichkeit, EMV 2016
Y2 - 23 February 2016 through 25 February 2016
ER -