System for testing digital components

Publikation: Schutzrecht/PatentPatent

Erfinder/-innen

  • Volker Schöber (Erfinder*in)
  • Ralf Arnold (Erfinder*in)
  • Matthias Heinitz (Erfinder*in)
  • Siegmar Koppe (Erfinder*in)

Externe Organisationen

  • Infineon Technologies AG
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Details

Titel in ÜbersetzungSystem zum Testen von Digitalbausteinen
OriginalspracheEnglisch
Veröffentlichungsnummer (amtliches Aktenzeichen)WO03098243A1
IPCG01R31/3181,G01R31/3185,G01R31/3183
Prioritätsdatum15 Mai 2002
Anmeldedatum14 Mai 2003
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2 Dez. 2003

Zitieren

System for testing digital components. / Schöber, Volker (Erfinder*in); Arnold, Ralf (Erfinder*in); Heinitz, Matthias (Erfinder*in) et al.
Patent Nr.: WO03098243A1. Dez. 02, 2003.

Publikation: Schutzrecht/PatentPatent

Schöber, V, Arnold, R, Heinitz, M & Koppe, S Dez.. 02 2003, System for testing digital components, Patent Nr. WO03098243A1. <https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DWO03098243A1>
Schöber, V., Arnold, R., Heinitz, M., & Koppe, S. (2003). System for testing digital components. (Patent Nr. WO03098243A1). https://worldwide.espacenet.com/patent/search?q=pn%3DWO03098243A1
Schöber V, Arnold R, Heinitz M, Koppe S, Erfinder/-innen. System for testing digital components. WO03098243A1. 2003 Dez 2.
Schöber, Volker (Erfinder*in) ; Arnold, Ralf (Erfinder*in) ; Heinitz, Matthias (Erfinder*in) et al. / System for testing digital components. Patent Nr.: WO03098243A1. Dez. 02, 2003.
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@misc{9dec9d5fae7d4430b566b51616f1c511,
title = "System for testing digital components",
author = "Volker Sch{\"o}ber and Ralf Arnold and Matthias Heinitz and Siegmar Koppe",
note = "Au{\ss}erdem ver{\"o}ffentlicht als: AU2003224158A1; CN100526900C; CN1653344A; DE10221611A1; DE10221611B4; EP1504273A1; EP1504273B1; JP2006507475A; JP3892459B2; US2006069951A1; US7386776B2; WO03098243A1; G01R31/3181,G01R31/3185,G01R31/3183",
year = "2003",
month = dec,
day = "2",
language = "English",
type = "Patent",

}

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TY - PAT

T1 - System for testing digital components

AU - Schöber, Volker

AU - Arnold, Ralf

AU - Heinitz, Matthias

AU - Koppe, Siegmar

N1 - Außerdem veröffentlicht als: AU2003224158A1; CN100526900C; CN1653344A; DE10221611A1; DE10221611B4; EP1504273A1; EP1504273B1; JP2006507475A; JP3892459B2; US2006069951A1; US7386776B2

PY - 2003/12/2

Y1 - 2003/12/2

M3 - Patent

M1 - WO03098243A1

Y2 - 2003/05/14

ER -

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