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  1. 2008

  2. Uv damage mechanisms in oxide high reflectors

    Jensen, L., Jupé, M. & Ristau, D., 30 Dez. 2008, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2008: 40th Annual Boulder Damage Symposium proceedings ; 22 - 24 September 2008, Boulder, Colorado. Bellingham: SPIE, 71320G. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 7132).

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  3. Veröffentlicht

    Electronic structure at interfaces of cubic Gd2O3 with embedded Si nanocrystals

    Badylevich, M., Shamuilia, S., Afanas'ev, V. V., Stesmans, A., Laha, A., Osten, H. J. & Fissel, A., Dez. 2008, in: Microelectronic engineering. 85, 12, S. 2382-2384 3 S.

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  4. Veröffentlicht

    Si-nanoclusters embedded into epitaxial rare earth oxides: Potential candidate for nonvolatile memory applications

    Laha, A., Bugiel, E., Fissel, A. & Osten, H. J., Dez. 2008, in: Microelectronic engineering. 85, 12, S. 2350-2353 4 S.

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  5. Veröffentlicht

    Impact of the Temperature Profile on Thermal Stress in a Tubular Solid Oxide Fuel Cell

    Fischer, K. & Seume, J. R., 12 Nov. 2008, in: Journal of Fuel Cell Science and Technology. 6, 1, S. 110171-110179 9 S.

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  6. Crystal quality boosts responsiveness of magnetic shape memory single crystals

    Rolfs, K., Mecklenburg, A., Guldbakke, J. M., Wimpory, R. C., Raatz, A., Hesselbach, J. & Schneider, R., 5 Nov. 2008, in: Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 321, 8, S. 1063-1067 5 S.

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  7. Veröffentlicht

    Relaxed germanium films on silicon (110)

    Wietler, T. F., Bugiel, E. & Hofmann, K. R., 3 Nov. 2008, in: THIN SOLID FILMS. 517, 1, S. 272-274 3 S.

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  8. Veröffentlicht

    Antimicrobial and antibacterial effects of silver nanoparticles synthesizied by novel electrochemical method

    Estrin, Y., Khaydarov, R., Khaydarov, R. A., Scheper, T., Endres, C. & Cho, S. Y., 7 Okt. 2008, Proceedings of the 2008 International Conference on Nanoscience and Nanotechnology: Proceedings of ICONN 2008. S. 44-47 4 S.

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  9. Co-deposition of double layer antireflection coatings and laser induced damage threshold (LIDT) measurements at 1064 nm: Inhomogeneous systems

    Javed Akhtar, S. M., Mittendorf, F., Schink, H., Ristau, D., Ebert, J. & Welling, H., Okt. 2008, in: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 10, 10, S. 2515-2518 4 S.

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  10. A method for the determination of substrate temperature during thin film coating deposition

    Günster, S., Ehlers, H. & Ristau, D., 25 Sept. 2008, Advances in Optical Thin Films III. 71010F. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 7101).

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  11. Comparison of measured and calculated performance of a 7-channel astronomical instrument

    Günster, S., Ristau, D., Greiner, J. & Tafelmaier, C., 25 Sept. 2008, Advances in Optical Thin Films III. 71011V. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 7101).

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  12. Optimization and characterization of transparent photocatalytic TiO 2 thin films prepared by ion-assisted deposition

    Boughaled, R., Schlichting, S., Ehlers, H., Ristau, D., Bannat, I. & Wark, M., 25 Sept. 2008, Advances in Optical Thin Films III. 71010K. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 7101).

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  13. Reliable production of steep edge interference filters

    Lappschies, M., Pfeifer, P., Schallenberg, U., Ehlers, H. & Ristau, D., 25 Sept. 2008, Advances in Optical Thin Films III. 71010P. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 7101).

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  14. State of the art in deterministic production of optical thin films

    Ristau, D., Ehlers, H., Schlichting, S. & Lappschies, M., 25 Sept. 2008, Advances in Optical Thin Films III. 71010C. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 7101).

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  15. Full-field strain evolution during intermartensitic transformations in single-crystal NiFeGa

    Efstathiou, C., Sehitoglu, H., Carroll, J., Lambros, J. & Maier, H. J., Sept. 2008, in: Acta materialia. 56, 15, S. 3791-3799 9 S.

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  16. Veröffentlicht

    High-k-oxide/silicon interfaces characterized by capacitance frequency spectroscopy

    Raeissi, B., Piscator, J., Engström, O., Hall, S., Buiu, O., Lemme, M. C., Gottlob, H. D. B., Hurley, P. K., Cherkaoui, K. & Osten, H. J., Sept. 2008, in: Solid-State Electronics. 52, 9, S. 1274-1279 6 S.

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  17. Veröffentlicht

    Simulation of migration effects in solder bumps

    Weide-Zaage, K., Sept. 2008, in: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 8, 3, S. 442-448 7 S., 4595633.

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  18. Surface passivation of high-efficiency silicon solar cells by atomic-layer-deposited Al2O3

    Schmidt, J., Merkle, A., Brendel, R., Hoex, B., Van De Sanden, M. C. M. & Kessels, W. M. M., Sept. 2008, in: Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 16, 6, S. 461-466 6 S.

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  19. Veröffentlicht

    Kinetic fragility of hydrous soda-lime-silica glasses

    Deubener, J., Behrens, H., Müller, R., Zietka, S. & Reinsch, S., 26 Aug. 2008, in: Journal of non-crystalline solids. 354, 42-44, S. 4713-4718 6 S.

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  20. Optical properties of Nd: YAG, Ti:Sapphire and NdF3 films

    Akhtar, S. M. J., Lappschies, M., Ristau, D. & Ashraf, M. W., Aug. 2008, in: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 10, 8, S. 2105-2110 6 S.

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  21. Veröffentlicht

    Asset-management of transformers based on condition monitoring and standard diagnosis

    Zhang, X. & Gockenbach, E., 29 Juli 2008, in: IEEE Electrical Insulation Magazine. 24, 4, S. 26-40 15 S.

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