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1787 Suchergebnisse

  1. 2000

  2. Fuzzy structural analysis using α-level optimization

    Möller, B., Graf, W. & Beer, M., Dez. 2000, in: Computational mechanics. 26, 6, S. 547-565 19 S.

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  3. Veröffentlicht

    Robust optimal onboard reentry guidance of a space shuttle: Dynamic game approach and guidance synthesis via neural networks

    Breitner, M. H., Dez. 2000, in: Journal of Optimization Theory and Applications. 107, 3, S. 481-503 23 S.

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  4. Veröffentlicht

    Contact with friction between beams in 3-D space

    Zavarise, G. & Wriggers, P., 20 Nov. 2000, in: International Journal for Numerical Methods in Engineering. 49, 8, S. 977-1006 30 S.

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  5. Veröffentlicht

    Intrastromal cutting effects in rabbit cornea using femtosecond laser pulses

    Heisterkamp, A., Ripken, T., Lubatschowski, H., Welling, H., Lütkefels, E., Drommer, W. & Ertmer, W., 16 Nov. 2000, Optical Biopsy and Tissue Optics. SPIE, S. 52-60 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4161).

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  6. Veröffentlicht

    Optoacoust ical Tissue D ifferentiat ion For On-Line Therapy Control

    Oberheide, U., Jansen, B., Bruder, I., Lubatschowski, H., Welling, H. & Ertmer, W., 16 Nov. 2000, Optical Biopsy and Tissue Optics. SPIE, S. 37-45 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4161).

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  7. Investigation on total scattering at 157 nm and 193 nm

    Kadkhoda, P., Welling, H., Guenster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 65-73 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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  8. Investigations of transmittance and reflectance in the DUV/VUV spectral range

    Kadkhoda, P., Blaschke, H., Kohlhaas, J. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 311-318 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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  9. Microroughness analysis of thin film components for VUV applications

    Ferré-Borrull, J., Duparŕ, A., Steinert, J., Ristau, D. & Quesnel, E., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 82-90 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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  10. New procedure for the optical characterization of high-quality thin films

    Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparré, A., Ferré-Borrull, J., Günster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 124-130 7 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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  11. Spectrophotometric determination of absorption in the DUV/VUV spectral range for MgF2 and LaF3 thin films

    Guenster, S., Ristau, D. & Bosch-Puig, S., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 299-310 12 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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  12. Standardization in optics characterization

    Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 91-109 19 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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  13. Optical characterization of materials deposited by different processes: The LaF3 in the UV-visible region

    Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparre, A., Ferre-Borrull, J., Guenster, S. & Ristau, D., 19 Okt. 2000, Optical and Infrared Thin Films: 1 August 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 15-22 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4094).

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  14. Rapid prototyping of optical thin film filters

    Starke, K., Gross, T., Lappschies, M. & Ristau, D., 19 Okt. 2000, Optical and infrared thin films: 1 August 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 83-92 10 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4094).

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  15. Pseudo-elastic flexure-hinges in robots for micro assembly

    Hesselbach, J. & Raatz, A., 11 Okt. 2000, Microrobotics and microassembly II: 5 - 6 November 2000, Boston, USA. Bellingham: SPIE, S. 157-167 11 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4194).

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  16. Veröffentlicht

    Elimination techniques: From extrapolation to totally positive matrices and CAGD

    Gasca, M. & Mühlbach, G., 1 Okt. 2000, in: Journal of Computational and Applied Mathematics. 122, 1-2, S. 37-50 14 S.

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  17. Veröffentlicht

    Interpolation by Cauchy-Vandermonde systems and applications

    Mühlbach, G., 1 Okt. 2000, in: Journal of Computational and Applied Mathematics. 122, 1, S. 203-222 20 S.

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  18. Veröffentlicht

    On the sensitivity of homogenized material responses at infinitesimal and finite strains

    Zohdi, T. I. & Wriggers, P., 18 Aug. 2000, in: Communications in Numerical Methods in Engineering. 16, 9, S. 657-670 14 S.

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  19. Veröffentlicht

    Intrastromal refractive surgery by ultrashort laser pulses: Side effects and mechanisms

    Heisterkamp, A., Maatz, G., Ripken, T., Lubatschowski, H., Welling, H., Luetkefels, E., Drommer, W. & Ertmer, W., 7 Juni 2000, Ophthalmic Technologies X. SPIE, S. 146-156 11 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3908).

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  20. Veröffentlicht

    Optoacoustic Tomography As a Diagnostic Tool for Transscleral Laser Cyclophotocoagulation

    Oberheide, U., Buesching, A., Bruder, I., Lubatschowski, H., Welling, H. & Ertmer, W., 7 Juni 2000, Ophthalmic Technologies X. SPIE, S. 60-68 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3908).

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  21. Veröffentlicht

    Parametric location-scale and scale trend tests based on Levene's transformation

    Neuhäuser, M. & Hothorn, L. A., 28 Apr. 2000, in: Computational Statistics and Data Analysis. 33, 2, S. 189-200 12 S.

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