655 Suchergebnisse

  1. 2008
  2. Veröffentlicht

    Transfer function as tool for noise suppression and localization of partial discharges in transformers during on-site measurements

    Gockenbach, E. & Borsi, H., 2008, Proceedings of 2008 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, CMD 2008. S. 1111-1114 4 S. 4580478. (Proceedings of 2008 International Conference on Condition Monitoring and Diagnosis, CMD 2008).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  3. 2007
  4. Veröffentlicht

    Dynamic void formation in a DD-copper-structure with different metallization geometry

    Weide-Zaage, K., Dalleau, D., Danto, Y. & Fremont, H., Feb. 2007, in: Microelectronics reliability. 47, 2-3, S. 319-325 7 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  5. Model-free sampling

    Beer, M., Jan. 2007, in: Structural safety. 29, 1, S. 49-65 17 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  6. Veröffentlicht

    A method for structural health monitoring of offshore wind turbines

    Reetz, J., Gerasch, W. J. & Rolfes, R., 2007, Proceedings of the 2nd International Operational Modal Analysis Conference, IOMAC 2007. (Proceedings of the 2nd International Operational Modal Analysis Conference, IOMAC 2007).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  7. Veröffentlicht

    No recombination detected in artificial potyvirus mixed infections and between potyvirus derived transgenes and heterologous challenging potyviruses.

    Dietrich, C., Miller, J., McKenzie, G., Palkovics, L., Balázs, E., Palukaitis, P. & Maiss, E., 2007, in: Environmental Biosafety Research. 6, 3, S. 207-218 12 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  8. 2006
  9. Veröffentlicht

    Modeling lateral parasitic transistors in smart power ICs

    Oehmen, J., Olbrich, M., Hedrich, L. & Barke, E., Sept. 2006, in: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 6, 3, S. 408-420 13 S., 1717490.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  10. Veröffentlicht

    Assessment of the actual condition of the electrical components in medium-voltage networks

    Zhang, X. & Gockenbach, E., Juni 2006, in: IEEE transactions on reliability. 55, 2, S. 361-368 8 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  11. Veröffentlicht

    Early damage detection system for tower and rotor blades of offshore wind turbines

    Rolfes, R., Gerasch, W. J., Haake, G., Reetz, J. & Zerbst, S., 2006, Proceedings of the 3rd European Workshop - Structural Health Monitoring 2006. S. 455-462 8 S. (Proceedings of the 3rd European Workshop - Structural Health Monitoring 2006).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  12. Nonlinear behaviour of PEM fuel cells operated in auto-humidification mode

    Hanke-Rauschenbach, R., Mangold, M. & Sundmacher, K., 2006, 2006 AIChE Annual Meeting. (AIChE Annual Meeting, Conference Proceedings).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  13. 2005
  14. Veröffentlicht

    Safety support by an automotive middleware

    Vollmer, V., Busse, M., Weber, A., Zender, A. & Jobmann, K., 4 Nov. 2005, in: SAE Technical Papers.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  15. Veröffentlicht

    Moisture diffusion in printed circuit boards: Measurements and finite- element- simulations

    Weide-Zaage, K., Horaud, W. & Frémont, H., Sept. 2005, in: Microelectronics reliability. 45, 9-11, S. 1662-1667 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  16. On Automatic Collision Avoidance Systems

    Brandt, T., Sattel, T. & Wallaschek, J., 11 Apr. 2005, in: SAE Technical Papers.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  17. Veröffentlicht

    Using a geographic information system for the generation of driving simulator scenes

    Haunert, J. H., Brenner, C. & Neidhart, H., 2005, in: Advances in Transportation Studies. SPEC.ISSUE, S. 33-44 12 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  18. 2004
  19. Veröffentlicht

    How to study delamination in plastic encapsulated devices

    Frémont, H., Delétage, J. Y., Weide-Zaage, K. & Danto, Y., Sept. 2004, in: Microelectronics reliability. 44, 9-11 SPEC. ISS., S. 1311-1316 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  20. Veröffentlicht

    Effect of thermal gradients on the electromigration lifetime in power electronics

    Nguyen, H. V., Salm, C., Krabbenborg, B., Weide-Zaage, K., Bisschop, J., Mouthaan, A. J. & Kuper, F. G., 2004, 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings. S. 619-620 2 S. (Annual Proceedings - Reliability Physics (Symposium)).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  21. 2003
  22. Veröffentlicht

    Simulation of time depending void formation in copper, aluminum and tungsten plugged via structures

    Dalleau, D., Weide-Zaage, K. & Danto, Y., Sept. 2003, in: Microelectronics reliability. 43, 9-11, S. 1821-1826 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  23. Veröffentlicht

    Migration of iodine-129 and iodine-127 in soils

    Ernst, T., Szidat, S., Handl, J., Jakob, D., Michel, R., Schnabel, C., Synal, H. A., Santos Arevalo, F. J., Benne, I., Boess, J., Gehrt, E., Capelle, A., Schneider, J., Schäfer, W. & Böttcher, J., Aug. 2003, in: KERNTECHNIK. 68, 4, S. 155-167 13 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  24. 2001
  25. Tailored Hybrid Blanks in steel and aluminium

    Pircher, H., Mertens, A., Polzin, R., Segala, A. & Wilkinson, B., 16 Okt. 2001, in: SAE Technical Papers.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  26. Veröffentlicht

    Three-dimensional voids simulation in chip metallization structures: A contribution to reliability evaluation

    Dalleau, D. & Weide-Zaage, K., Sept. 2001, in: Microelectronics reliability. 41, 9-10, S. 1625-1630 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  27. Epitaxial, high-K dielectrics on silicon: The example of praseodymium oxide

    Osten, H. J., Liu, J. P., Müssig, H. J. & Zaumseil, P., Juli 2001, in: Microelectronics reliability. 41, 7, S. 991-994 4 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review