4480 Suchergebnisse

  1. 1999
  2. International round-robin experiment on optical total scattering at 633 nm according to ISO/DIS 13696

    Kadkhoda, P., Amra, C., Bennett, J. M., Deumie, C., Duparre, A., Gliech, S., Kessler, H., Lauth, H., Lindstroem, T., Mueller, A., Reng, N., Ribbing, C. G., Ristau, D., Schuhmann, R., Jolie, C. & Tilsch, M., 6 Sept. 1999, Optical Fabrication and Testing: 26 - 28 May 1999, Berlin, Germany. Bellingham: SPIE, S. 548-556 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3739).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  3. Increasing process margin in SiGe heterojunction bipolar technology by adding carbon

    Osten, H. J., Knoll, D., Heinemann, B. & Schley, P., Sept. 1999, in: IEEE Transactions on Electron Devices. 46, 9, S. 1910-1912 3 S.

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  4. Micromachined flame ionization detector and flame spectrometer

    Zimmermann, S., Wischhusen, S. & Mueller, J., 31 Aug. 1999, Micromachined Devices and Components V. Bellingham: SPIE, S. 238-245 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3876).

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  5. Nonlinear vector error tolerant interpolation of intermediate video images by weighted medians

    Blume, H., 16 Juli 1999, in: Signal Processing: Image Communication. 14, 10, S. 851-868 18 S.

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  6. Method to determine snow albedo values in the ultraviolet for radiative transfer modeling

    Schwander, H., Mayer, B., Ruggaber, A., Albold, A., Seckmeyer, G. & Koepek, P., 20 Juni 1999, in: Applied optics. 38, 18, S. 3869-3875 7 S.

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  7. Interdisciplinary development of smart systems with functional and geometrical modeling techniques

    Kuemmel, M. A., Henke, A. & Wallaschek, J., 9 Juni 1999, Smart Structures and Materials 1999: Smart Structures and Integrated Systems. II Aufl. Band 3668. S. 933-942 10 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering).

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  8. Piezoelectrical wire feeding system for micropositioning in bonding machines

    Henke, A., Kuemmel, M. A. & Wallaschek, J., 9 Juni 1999, Smart Structures and Materials 1999: Smart Structures and Integrated Systems. II Aufl. Band 3668. S. 656-664 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering).

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  9. Ion-assisted deposition of oxide materials at room temperature by use of different ion sources

    Niederwald, H., Mertin, M., Laux, S., Duparré, A., Kaiser, N. & Ristau, D., 1 Juni 1999, in: Applied Optics. 38, 16, S. 3610-3613 4 S.

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  10. Silicide reaction of Co with Si0.999C0.001

    Teichert, S., Falke, M., Giesler, H., Beddies, G., Hinneberg, H. J., Lippert, G., Griesche, J. & Osten, H. J., Juni 1999, in: Solid-State Electronics. 43, 6, S. 1051-1054 4 S.

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  11. Sub-100 nm structures by neutral atom lithography

    Schulze, T., Brezger, B., Schmidt, P. O., Mertens, R., Bell, A. S., Pfau, T. & Mlynek, J., Mai 1999, in: Microelectronic Engineering. 46, 1, S. 105-108 4 S.

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  12. Veröffentlicht

    Applying Fiber Optical Methods for Toxicological Testing in Vitro

    Maerz, H. K., Buchholz, R., Emmrich, F., Finks, F., Geddes, C. L., Pfeifer, L., Raabe, F., Scheper, T., Ulrich, E. & Marx, U., 21 Apr. 1999, Systems and Technologies for Clinical Diagnostics and Drug Discovery II. Band 3603. S. 228-239 12 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering).

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  13. Laser-induced damage threshold of optical components for high repetition rate Nd:YAG lasers

    Starke, K., Gross, T., Ristau, D., Riggers, W. & Ebert, J., 7 Apr. 1999, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 1998. Bellingham: SPIE, S. 584-593 10 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3578).

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  14. National round-robin test on laser induced damage at 1.064 μm: Revised data reduction and correlation analysis

    Arenberg, J. W., Riede, W., Broulik, U., Steiger, B., Willamowski, U. & Ristau, D., 7 Apr. 1999, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 1998 : proceedings. Bellingham: SPIE, S. 645-656 12 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3578).

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  15. Total scatter measurements in the DUV/VUV

    Kadkhoda, P., Ristau, D. & von Alvensleben, F., 7 Apr. 1999, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 1998: proceedings. Bellingham: SPIE, S. 544-554 11 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3578).

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  16. Characterization of the Effectiveness of Carbon Incorporation in SiGe for the Elimination of Parasitic Energy Barriers in SiGe HBT's

    Anteney, I. M., Lippert, G., Ashburn, P., Osten, H. J., Heinemann, B., Parker, G. J. & Knoll, D., März 1999, in: IEEE electron device letters. 20, 3, S. 116-118 3 S.

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  17. Veröffentlicht

    Automatic beam alignment in the Garching 30-m prototype of a laser-interferometric gravitational wave detector

    Heinzel, G., Rüdiger, A., Schilling, R., Strain, K., Winkler, W., Mizuno, J. & Danzmann, K., 15 Feb. 1999, in: Optics communications. 160, 4-6, S. 321-334 14 S.

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  18. Veröffentlicht

    Two-dimensional fluorescence spectroscopy for application in biotechnology

    Lindemann, C., Marose, S., Scheper, T., Nielsen, H. O., Hitzmann, B. & Belgardt, K. H., 10 Feb. 1999, Environmental Monitoring and Remediation Technologies. Band 3534. S. 83-91 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering).

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  19. Veröffentlicht

    3D numerical analysis of the influence of EM and marangoni forces on melt hydrodynamics and mass transport during FZ silicon crystal growth

    Ratnieks, G., Muiznieks, A., Buligins, L., Raming, G. & Mühlbauer, A., 1999, in: Magnetohydrodynamics. 35, 3, S. 223-236 14 S.

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  20. Veröffentlicht

    A 1.3 GOPS parallel DSP for high performance image processing applications

    Hinrichs, W., Wittenburg, J. P., Lieske, H., Kloos, H., Ohmacht, M., Kneip, J., Rönner, K. & Pirsch, P., 1999, in: European Solid-State Circuits Conference. S. 102-105 4 S., 1471106.

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  21. Veröffentlicht

    Architecture of a hardware module for MPEG-4 shape decoding

    Berekovic, M., Jacob, K. & Pirsch, P., 1999, Proceedings : IEEE International Symposium on Circuits and Systems. S. I-157 - I-160 (Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems; Band 1).

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