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1. 2000

2. Comparison of the open circuit voltage of simplified PERC cells passivated with PECVD silicon nitride and thermal silicon oxide

   Kerr, M., Schmidt, J. & Cuevas, A., 2 Nov. 2000, in: Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 8, 5, S. 529-536 8 S.

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3. Investigation on total scattering at 157 nm and 193 nm

   Kadkhoda, P., Welling, H., Guenster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 65-73 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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4. Investigations of transmittance and reflectance in the DUV/VUV spectral range

   Kadkhoda, P., Blaschke, H., Kohlhaas, J. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 311-318 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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5. Microroughness analysis of thin film components for VUV applications

   Ferré-Borrull, J., Duparŕ, A., Steinert, J., Ristau, D. & Quesnel, E., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 82-90 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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6. New procedure for the optical characterization of high-quality thin films

   Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparré, A., Ferré-Borrull, J., Günster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 124-130 7 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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7. Spectrophotometric determination of absorption in the DUV/VUV spectral range for MgF₂ and LaF₃ thin films

   Guenster, S., Ristau, D. & Bosch-Puig, S., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 299-310 12 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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8. Standardization in optics characterization

   Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 91-109 19 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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9. Micro flame spectrometer

   Zimmermann, S. & Müller, J., Nov. 2000, in: Microsystem Technologies. 6, 6, S. 241-245 5 S.

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10. Veröffentlicht

    Selection of the frequency range for high-voltage on-site testing of extruded insulation cable systems

    Gockenbach, E. & Hauschild, W., Nov. 2000, in: IEEE Electrical Insulation Magazine. 16, 6, S. 11-16 6 S.

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11. Optical characterization of materials deposited by different processes: The LaF₃ in the UV-visible region

    Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparre, A., Ferre-Borrull, J., Guenster, S. & Ristau, D., 19 Okt. 2000, Optical and Infrared Thin Films: 1 August 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 15-22 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4094).

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12. Rapid prototyping of optical thin film filters

    Starke, K., Gross, T., Lappschies, M. & Ristau, D., 19 Okt. 2000, Optical and infrared thin films: 1 August 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 83-92 10 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4094).

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13. Veröffentlicht

    Setup of a fiber optical oxygen multisensor-system and its applications in biotechnology

    Kohls, O. & Scheper, T., 16 Okt. 2000, in: Sensors and Actuators, B: Chemical. 70, 1-3, S. 121-130 10 S.

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14. Pseudo-elastic flexure-hinges in robots for micro assembly

    Hesselbach, J. & Raatz, A., 11 Okt. 2000, Microrobotics and microassembly II: 5 - 6 November 2000, Boston, USA. Bellingham: SPIE, S. 157-167 11 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4194).

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15. International round-robin experiment to test the International Organization for Standardization total-scattering draft standard

    Kadkhoda, P., Müller, A., Ristau, D., Duparré, A., Gliech, S., Lauth, H., Schuhmann, U., Reng, N., Tilsch, M., Schuhmann, R., Amra, C., Deumie, C., Jolie, C., Kessler, H., Lindström, T., Ribbing, C. G. & Bennett, J. M., 1 Juli 2000, in: Applied Optics. 39, 19, S. 3321-3332 12 S.

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16. Veröffentlicht

    1.3-GOPS parallel DSP for high-performance image-processing applications

    Hinrichs, W., Wittenburg, J. P., Lieske, H., Kloos, H., Ohmacht, M. & Pirsch, P., Juli 2000, in: IEEE Journal of Solid-State Circuits. 35, 7, S. 946-952 7 S.

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17. Veröffentlicht

    Intrastromal refractive surgery by ultrashort laser pulses: Side effects and mechanisms

    Heisterkamp, A., Maatz, G., Ripken, T., Lubatschowski, H., Welling, H., Luetkefels, E., Drommer, W. & Ertmer, W., 7 Juni 2000, Ophthalmic Technologies X. SPIE, S. 146-156 11 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3908).

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18. Veröffentlicht

    Optoacoustic Tomography As a Diagnostic Tool for Transscleral Laser Cyclophotocoagulation

    Oberheide, U., Buesching, A., Bruder, I., Lubatschowski, H., Welling, H. & Ertmer, W., 7 Juni 2000, Ophthalmic Technologies X. SPIE, S. 60-68 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 3908).

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19. Band offset predictions for strained group IV alloys: Si_1-x-yGe_xC_y on Si(001) and Si_1-xGe_x on Si_1-zGe_z(001)

    Galdin, S., Dollfus, P., Aubry-Fortuna, V., Hesto, P. & Osten, H. J., 6 Juni 2000, in: Semiconductor Science and Technology. 15, 6, S. 565-572 8 S.

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20. Veröffentlicht

    Experimental demonstration of negative dispersion without absorption

    Wicht, A., Müller, M., Rinkleff, R. H., Rocco, A. & Danzmann, K., 25 Mai 2000, in: Optics communications. 179, 1, S. 107-115 9 S.

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21. Applications of medium voltage drives with IGBT three-level inverter

    Mertens, A., Sommer, R. & Brunette, C., 11 Mai 2000, in: IEE Colloquium (Digest). 63, S. 51-55 5 S.

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