4492 Suchergebnisse

  1. 2006
  2. Veröffentlicht

    0.86-nm CET Gate Stacks With Epitaxial Gd2O3 High-k Dielectrics and FUSI NiSi Metal Electrodes 

    Gottlob, H. D. B., Echtermeyer, T., Schmidt, M., Mollenhauer, T., Efavi, J. K., Wahlbrink, T., Lemme, M. C., Czernohorsky, M., Bugiel, E., Fissel, A., Osten, H. J. & Kurz, H., 25 Sept. 2006, in: IEEE electron device letters. 27, 10, S. 814-816 3 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  3. Design and quantitative analysis of parametrisable eFPGA-architectures for arithmetic

    Neumann, B., Von Sydow, T., Blume, H. & Noll, T. G., 6 Sept. 2006, in: Advances in Radio Science. 4, S. 251-257 7 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  4. Veröffentlicht

    Breakdown behavior of electronics at variable pulse repetition rates

    Korte, S. & Garbe, H., 4 Sept. 2006, in: Advances in Radio Science. 4, S. 7-10 4 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  5. 19% efficient n-type czochralski silicon solar cells with screen-printed aluminium-alloyed rear emitter

    Schmiga, C., Schmidt, J. & Nagel, H., Sept. 2006, in: Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 14, 6, S. 533-539 7 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  6. Limit for pulse compression by pulse splitting

    Demircan, A. & Bandelow, U., Sept. 2006, in: Optical and quantum electronics. 38, 12-14, S. 1167-1172 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  7. Veröffentlicht

    Modeling lateral parasitic transistors in smart power ICs

    Oehmen, J., Olbrich, M., Hedrich, L. & Barke, E., Sept. 2006, in: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 6, 3, S. 408-420 13 S., 1717490.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  8. Novel compact spectrophotometer for EUV-optics characterization

    Starke, K., Blaschke, H., Jensen, L., Nevas, S., Ristau, D., Lebert, R., Wies, C., Bayer, A., Barkusky, F. & Mann, K., 29 Aug. 2006, Advances in X-Ray/EUV Optics, Components, and Applications. 631701. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 6317).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  9. Combined laser calorimetry and photothermal technique for absorption measurement of optical coatings

    Li, B., Blaschke, H. & Ristau, D., 10 Aug. 2006, in: Applied Optics. 45, 23, S. 5827-5831 5 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  10. Veröffentlicht

    Optical characterization of ultrahigh diffraction efficiency gratings

    Bunkowski, A., Burmeister, O., Clausnitzer, T., Kley, E. B., Tünnermann, A., Danzmann, K. & Schnabel, R., 10 Aug. 2006, in: Applied optics. 45, 23, S. 5795-5799 5 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  11. Storage ring free-electron lasing at 176 nm-dielectric mirror development for vacuum ultraviolet free-electron lasers

    Günster, S., Ristau, D., Gatto, A., Kaiser, N., Trovó, M. & Danailov, M., 10 Aug. 2006, in: Applied Optics. 45, 23, S. 5866-5870 5 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  12. Broad angle antireflection coatings and their damage threshold at 1064 nm

    Javed Akhtar, S. M. & Ristau, D., Aug. 2006, in: Journal of Optoelectronics and Advanced Materials. 8, 4, S. 1597-1600 4 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  13. Veröffentlicht

    Characterization of crystalline rare-earth oxide high-K dielectrics grown by molecular beam epitaxy on silicon carbide

    Fissel, A., Czernohorsky, M. & Osten, H. J., 26 Juli 2006, in: Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 24, 4, S. 2115-2118 4 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  14. Veröffentlicht

    Fabrication of single-crystalline insulator/Si/insulator nanostructures

    Fissel, A., Kühne, D., Bugiel, E. & Osten, H. J., 25 Juli 2006, in: Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 24, 4, S. 2041-2046 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  15. Veröffentlicht

    Three-dimensional shape estimation of BHK cell clusters from a still image based on shape from shading for in-situ microscopy

    Martinez, G., Frerichs, J. G., Joeris, K., Konstantinov, K. & Scheper, T., 24 Juli 2006, 2006 IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing: Proceedings. Band 5. S. 581-584 (ICASSP, IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing - Proceedings).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  16. Veröffentlicht

    Optical derotator for scanning vibrometer measurements on rotating objects

    Boedecker, S., Dräbenstedt, A., Heller, L., Kraft, A., Leonhardt, A., Pape, C., Ristau, S., Reithmeier, E. & Rembe, C., 21 Juni 2006, Seventh International Conference on Vibration Measurements by Laser Techniques: Advances and Applications. 11 S. 63450M. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 6345).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  17. A Case Study for the Application of Deterministic and Stochastic Petri Nets in the SoC Communication Domain

    Blume, H., Von Sydow, T. & Noll, T. G., 1 Juni 2006, in: Journal of VLSI Signal Processing Systems for Signal, Image, and Video Technology. 43, 2, S. 223-233 11 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  18. Veröffentlicht

    Assessment of the actual condition of the electrical components in medium-voltage networks

    Zhang, X. & Gockenbach, E., Juni 2006, in: IEEE transactions on reliability. 55, 2, S. 361-368 8 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  19. Veröffentlicht

    CMOS integration of epitaxial Gd2O3 high-k gate dielectrics

    Gottlob, H. D. B., Echtermeyer, T., Mollenhauer, T., Efavi, J. K., Schmidt, M., Wahlbrink, T., Lemme, M. C., Kurz, H., Czernohorsky, M., Bugiel, E., Osten, H. J. & Fissel, A., Juni 2006, in: Solid-State Electronics. 50, 6, S. 979-985 7 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  20. Veröffentlicht

    Dielectric behavior of insulating liquids at very low frequency

    Shayegani Akmal, A. A., Borsi, H., Gockenbach, E., Wasserberg, V. & Mohseni, H., Juni 2006, in: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation. 13, 3, S. 532-538 7 S., 1657965.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  21. Veröffentlicht

    Low-temperature preparation of crystalline nanoporous TiO2 films by surfactant-assisted anodic electrodeposition

    Wessels, K., Feldhoff, A., Wark, M., Rathousky, J. & Oekermann, T., Juni 2006, in: Electrochemical and Solid-State Letters. 9, 6, S. C93-C96

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review