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1. 1995

2. Photogrammetric point determination using MOMS-02/D2 imagery

   Kornus, W., Ebner, H. & Heipke, C., 1995, Proceedings of SPIE : The International Society for Optical Engineering. S. 115-125 11 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 2572).

   Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

3. Spectroscopic investigations of mesoporous M41S silica phases

   Froba, M., Behrens, P., Wong, J., Engelhardt, G., Haggen-Muller, C., Van De Goor, G., Rowen, M., Tanaka, T. & Schwieger, W., 1995, in: Materials Research Society Symposium - Proceedings. 371, S. 99-104 6 S.

   Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review

4. Trapped metal cluster ions

   Schweikhard, L., Becker, S., Dasgupta, K., Dietrich, G., Kluge, H. J., Kreisle, D., Krückeberg, S., Kuznetsov, S., Lindinger, M., Lützenkirchen, K., Obst, B., Walther, C., Weidele, H. & Ziegler, J., 1995, in: Physica Scripta. 1995, T59, S. 236-243 8 S.

   Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review

5. Veröffentlicht

   Using Fourier transform microwave spectroscopy to detect pollutants

   Lovas, F. J., Pereyra, W., Suenram, R. D., Fraser, G. T., Grabow, J. U. & Hight Walker, A. R., 1995, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. S. 58-69 12 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 2365).

   Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

6. Veröffentlicht

   Very large scale integration (VLSI) architectures for video signal processing

   Pirsch, P. & Gehrke, W., 1995, Proceedings of SPIE : The International Society for Optical Engineering. 2/- Aufl. S. 758-777 20 S. (SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 2501 , Nr. 2/-).

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7. 1994

8. Transport spectroscopy on a single quantum dot

   Weis, J., Haug, R. J., Von Klitzing, K. & Ploog, K., 1 Dez. 1994, in: Semiconductor Science and Technology. 9, 11 S, S. 1890-1896 7 S., 006.

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9. Test on image understanding

   Fritsch, D., Sester, M. & Schenk, T. F., Dez. 1994, Proceedings of SPIE: The International Society for Optical Engineering. S. 243-248 6 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 2357).

   Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

10. Measurement of Thermal conductivity in dielectric films by the Thermal pulse method

    Dieckmann, M., Ristau, D., Willamowski, U. & Schmidt, H., 4 Nov. 1994, S. 712-719. 8 S.

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11. Veröffentlicht

    Synthesis and structural characterization of non-crystalline mullite precursors

    Schneider, H., Voll, D., Saruhan, B., Sanz, J., Schrader, G., Rüscher, C. & Mosset, A., 3 Nov. 1994, in: Journal of non-crystalline solids. 178, C, S. 262-271 10 S.

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12. Considerations about the critical thickness for pseudomorphic Si_1-xGe_x growth on Si(001)

    Osten, H. J., Zeindl, H. P. & Bugiel, E., 2 Okt. 1994, in: Journal of crystal growth. 143, 3-4, S. 194-199 6 S.

    Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review

13. Antimony-mediated growth of epitaxial Ge_1-yC_y layers on Si(001)

    Osten, H. J., Bugiel, E. & Zaumseil, P., 2 Sept. 1994, in: Journal of crystal growth. 142, 3-4, S. 322-326 5 S.

    Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review

14. Atomic structure and lattice dynamics of strain-compensated si_1-x-yge_xc_y layers

    Rüecker, H., Methfessel, M., Dietrich, B., Osten, H. J. & Zaumseil, P., Sept. 1994, in: Superlattices and microstructures. 16, 2, S. 121-124 4 S.

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15. Veröffentlicht

    Inductive cross-field heating. A flexible heating process for metallic flat products

    Nacke, B., Andree, W. & Kroes, H. J., Aug. 1994, Stahl und Eisen, 114, 8, S. 69-74 6 S.

    Publikation: Beitrag in nicht-wissenschaftlicher/populärwissenschaftlicher Zeitschrift/Zeitung › Beitrag in Publikumszeitung/-zeitschrift › Transfer

16. Local internal stress characterization in a tensile-deformed copper single crystal by convergent-beam electron diffraction

    Keller, R. R., Maier, H. J., Renner, H. & Mughrabi, H., Aug. 1994, in: Philosophical Magazine A: Physics of Condensed Matter, Structure, Defects and Mechanical Properties. 70, 2, S. 329-340 12 S.

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17. Laser damage studies of metal mirrors and ZnSe - Optics by long pulse-And TEA-CO₂-Lasers at 10.6μm

    Plass, W., Krupka, R., Giesen, A., Reedy, H. E., Kennedy, M. & Ristau, D., 28 Juli 1994, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 1993: 27 - 29 October 1993, Boulder, Colorado ; proceedings. Bellingham: SPIE, S. 187-200 14 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 2114).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

18. Multicomponent fiberoptical biosensor for use in hemodialysis monitoring

    Muller, C., Schubert, F. & Scheper, T., 28 Juli 1994, Biomedical Fiber Optic Instrumentation. S. 555-562 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 2131).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

19. Characterization of very thin MBEgrown Ge epilayers on (001)Si

    Kissinger, W., Osten, H. J., Lippert, G., Dietrich, B. & Bugiel, E., 26 Mai 1994, in: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 2141, S. 135-145 11 S.

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20. Tetrahedral coordination of mn(iv) by oxygen in manganese sillenite bi₁₂mno₂₀

    Delicat, U., Radaev, S. F., Trömel, M., Behrens, P., Kargin, Y. F. & Mar'in, A. A., Mai 1994, in: Journal of solid state chemistry. 110, 1, S. 66-69 4 S.

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21. Relaxation of excitons in corrugated GaAs/AlAs superlattices

    Jiang, D. S., Zhou, X., Oestreich, M., Rühle, W. W., Nötzel, R. & Ploog, K., 15 Apr. 1994, in: Physical Review B. 49, 15, S. 10786-10789 4 S.

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22. Characterization of the valence band offset in p-Si/Si_1-xGe_x/Si by space charge spectroscopy

    Schmalz, K., Rücker, H., Yassievich, I. N., Grimmeiss, H. G., Dietrich, B., Frankenfeld, H., Mehr, W., Osten, H. J. & Schley, P., Apr. 1994, in: Solid state electronics. 37, 4-6, S. 945-948 4 S.

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