3385 Suchergebnisse

1. 2001
2. Veröffentlicht

   Li diffusion in nano- and microcrystalline (1-x)Li₂O:xB₂O₃

   Indris, S., Heitjans, P., Roman, H. E. & Bunde, A., 2001, in: Defect and Diffusion Forum. 194-199, S. 935-940 6 S.

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3. Veröffentlicht

   Reduction of MoM matrix dimension by transmission line and circuit theory

   Keller, U., John, W. & Garbe, H., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 605-610 6 S.

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4. Speeding up CMOS cameras and optical receivers by improved column multiplexer

   Wicht, B., Martiny, I., Schmitt-Landsiedel, D., Paul, S. & Sanders, A., 2001, in: Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering. 4290, S. 28-37 10 S.

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5. The effect of twinning and slip on the bauschinger effect of hadfield steel single crystals

   Karaman, I., Sehitoglu., H., Chumlyakov, Y. I., Maier, H. J. & Kireeva, I. V., 2001, in: Metallurgical and Materials Transactions A: Physical Metallurgy and Materials Science. 32, 13, S. 695-706 12 S.

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6. Veröffentlicht

   UWB and EMP susceptibility of modern electronics

   Camp, M., Garbe, H. & Nitsch, D., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 1015-1020 6 S.

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7. 2000

8. Multicollision-induced dissociation of multiply charged gold clusters, Au(n)/²⁺, n = 7-35, and Au(n)/³⁺, n = 19-35

   Ziegler, J., Dietrich, G., Krückeberg, S., Lützenkirchen, K., Schweikhard, L. & Walther, C., 27 Nov. 2000, in: International Journal of Mass Spectrometry. 202, 1-3, S. 47-54 8 S.

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9. Veröffentlicht

   Intrastromal cutting effects in rabbit cornea using femtosecond laser pulses

   Heisterkamp, A., Ripken, T., Lubatschowski, H., Welling, H., Lütkefels, E., Drommer, W. & Ertmer, W., 16 Nov. 2000, Optical Biopsy and Tissue Optics. SPIE, S. 52-60 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4161).

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10. Veröffentlicht

    Optoacoust ical Tissue D ifferentiat ion For On-Line Therapy Control

    Oberheide, U., Jansen, B., Bruder, I., Lubatschowski, H., Welling, H. & Ertmer, W., 16 Nov. 2000, Optical Biopsy and Tissue Optics. SPIE, S. 37-45 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4161).

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11. Veröffentlicht

    Magnetic-field-induced singularities in spin-dependent tunneling through InAs quantum dots

    Hapke-Wurst, I., Zeitler, U., Frahm, H., Jansen, A. G. M., Haug, R. J. & Pierz, K., 15 Nov. 2000, in: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics. 62, 19, S. 12621-12624 4 S.

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12. Comparison of the open circuit voltage of simplified PERC cells passivated with PECVD silicon nitride and thermal silicon oxide

    Kerr, M., Schmidt, J. & Cuevas, A., 2 Nov. 2000, in: Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 8, 5, S. 529-536 8 S.

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13. Investigation on total scattering at 157 nm and 193 nm

    Kadkhoda, P., Welling, H., Guenster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 65-73 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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14. Investigations of transmittance and reflectance in the DUV/VUV spectral range

    Kadkhoda, P., Blaschke, H., Kohlhaas, J. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 311-318 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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15. Microroughness analysis of thin film components for VUV applications

    Ferré-Borrull, J., Duparŕ, A., Steinert, J., Ristau, D. & Quesnel, E., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 82-90 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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16. New procedure for the optical characterization of high-quality thin films

    Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparré, A., Ferré-Borrull, J., Günster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 124-130 7 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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17. Veröffentlicht

    Spatially resolved measurements of electrochemically induced spillover on porous and microstructured Pt/YSZ catalysts

    Imbihl, R. & Janek, J., 2 Nov. 2000, in: SOLID STATE IONICS. 136-137, S. 699-705 7 S.

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18. Spectrophotometric determination of absorption in the DUV/VUV spectral range for MgF₂ and LaF₃ thin films

    Guenster, S., Ristau, D. & Bosch-Puig, S., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 299-310 12 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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19. Standardization in optics characterization

    Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 91-109 19 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

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20. Veröffentlicht

    Stepped NaCl films grown epitaxially on Si-precovered vicinal Ge(100)

    Tegenkamp, C., Ernst, W., Eichmann, M. & Pfnür, H., 2 Nov. 2000, in: Surface Science. 466, 1-3, S. 41-53 13 S.

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21. Micro flame spectrometer

    Zimmermann, S. & Müller, J., Nov. 2000, in: Microsystem Technologies. 6, 6, S. 241-245 5 S.

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22. Optical characterization of materials deposited by different processes: The LaF₃ in the UV-visible region

    Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparre, A., Ferre-Borrull, J., Guenster, S. & Ristau, D., 19 Okt. 2000, Optical and Infrared Thin Films: 1 August 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 15-22 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4094).

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