2837 Suchergebnisse

1. 2001
2. Veröffentlicht

   A regular path recognition method and prediction of user movements in wireless networks

   Erbas, F., Steuer, J., Eggesieker, D., Kyamakya, K. & Jobmann, K., 2001, in: IEEE Vehicular Technology Conference. 4, 54ND, S. 2672-2676 5 S.

   Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review

3. Implementation and calibration of a multi sensor measuring system

   Böhm, J., Gühring, J. & Brenner, C., 2001, in: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 4309, S. 154-161 8 S.

   Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review

4. Veröffentlicht

   Implementing the MPEG-4 advanced simple profile for streaming video applications

   Stolberg, H. J., Berekovic, M., Pirsch, P. & Runge, H., 2001, Proceedings : IEEE International Conference on Multimedia and Expo. IEEE Computer Society, S. 230-233 4 S. 1237698. (Proceedings - IEEE International Conference on Multimedia and Expo).

   Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

5. Veröffentlicht

   On the number of iterations required by von Neumann addition

   Grübel, R. & Reimers, A., 2001, in: RAIRO - Theoretical Informatics and Applications. 35, 2, S. 187-206 20 S.

   Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review

6. Veröffentlicht

   Quality assessment of digital surface models derived from the Shuttle Radar Topography Mission (SRTM)

   Koch, A. & Heipke, C., 2001, S. 2863-2865. 3 S.

   Publikation: Konferenzbeitrag › Paper › Forschung › Peer-Review

7. Sensor and data fusion contest: Information for mapping from airborne SAR and optical imagery

   Hellwich, O., Heipke, C. & Wessel, B., 2001, S. 2793-2795. 3 S.

   Publikation: Konferenzbeitrag › Paper › Forschung › Peer-Review

8. Speeding up CMOS cameras and optical receivers by improved column multiplexer

   Wicht, B., Martiny, I., Schmitt-Landsiedel, D., Paul, S. & Sanders, A., 2001, in: Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering. 4290, S. 28-37 10 S.

   Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review

9. 2000
10. Veröffentlicht

    Strategy for numerical testing of frictional laws with application to contact between soil and concrete

    Haraldsson, A. & Wriggers, P., 24 Nov. 2000, in: Computer Methods in Applied Mechanics and Engineering. 190, 8-10, S. 963-977 15 S.

    Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review

11. Veröffentlicht

    Intrastromal cutting effects in rabbit cornea using femtosecond laser pulses

    Heisterkamp, A., Ripken, T., Lubatschowski, H., Welling, H., Lütkefels, E., Drommer, W. & Ertmer, W., 16 Nov. 2000, Optical Biopsy and Tissue Optics. SPIE, S. 52-60 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4161).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

12. Veröffentlicht

    Optoacoust ical Tissue D ifferentiat ion For On-Line Therapy Control

    Oberheide, U., Jansen, B., Bruder, I., Lubatschowski, H., Welling, H. & Ertmer, W., 16 Nov. 2000, Optical Biopsy and Tissue Optics. SPIE, S. 37-45 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4161).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

13. Investigation on total scattering at 157 nm and 193 nm

    Kadkhoda, P., Welling, H., Guenster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 65-73 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

14. Investigations of transmittance and reflectance in the DUV/VUV spectral range

    Kadkhoda, P., Blaschke, H., Kohlhaas, J. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 311-318 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

15. Microroughness analysis of thin film components for VUV applications

    Ferré-Borrull, J., Duparŕ, A., Steinert, J., Ristau, D. & Quesnel, E., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 82-90 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

16. New procedure for the optical characterization of high-quality thin films

    Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparré, A., Ferré-Borrull, J., Günster, S. & Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 124-130 7 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

17. Spectrophotometric determination of absorption in the DUV/VUV spectral range for MgF₂ and LaF₃ thin films

    Guenster, S., Ristau, D. & Bosch-Puig, S., 2 Nov. 2000, Optical metrology roadmap for the semiconductor, optical, and data storage industries: 30 - 31 July 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 299-310 12 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

18. Standardization in optics characterization

    Ristau, D., 2 Nov. 2000, Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries. Bellingham: SPIE, S. 91-109 19 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4099).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

19. Optical characterization of materials deposited by different processes: The LaF₃ in the UV-visible region

    Bosch, S., Leinfellner, N., Quesnel, E., Duparre, A., Ferre-Borrull, J., Guenster, S. & Ristau, D., 19 Okt. 2000, Optical and Infrared Thin Films: 1 August 2000, San Diego, USA. 1 Aufl. Bellingham: SPIE, S. 15-22 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4094).

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20. Rapid prototyping of optical thin film filters

    Starke, K., Gross, T., Lappschies, M. & Ristau, D., 19 Okt. 2000, Optical and infrared thin films: 1 August 2000, San Diego, USA. Bellingham: SPIE, S. 83-92 10 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4094).

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21. Veröffentlicht

    Arbitrary Lagrangian Eulerian finite element analysis of free surface flow

    Braess, H. & Wriggers, P., 18 Okt. 2000, in: Computer Methods in Applied Mechanics and Engineering. 190, 1-2, S. 95-109 15 S.

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22. Pseudo-elastic flexure-hinges in robots for micro assembly

    Hesselbach, J. & Raatz, A., 11 Okt. 2000, Microrobotics and microassembly II: 5 - 6 November 2000, Boston, USA. Bellingham: SPIE, S. 157-167 11 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 4194).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review