3385 Suchergebnisse

1. 2004

2. Manipulating intense XUV coherent light in the temporal domain

   Merdji, H., Hergott, J. F., Kovacev, M., Priori, E., Salières, P. & Carré, B., Sept. 2004, in: Laser and particle beams. 22, 3, S. 275-278 4 S.

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3. Microstructure evolution and mechanical behavior of bulk copper obtained by consolidation of micro- and nanopowders using equal-channel angular extrusion

   Haouaoui, M., Karaman, I., Maier, H. J. & Harwig, K. T., Sept. 2004, in: Metallurgical and Materials Transactions A: Physical Metallurgy and Materials Science. 35 A, 9, S. 2935-2949 15 S.

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4. Mixed micellar phases of nonmiscible surfactants: Mesoporous silica with bimodal pore size distribution via the nanocasting process

   Groenewolt, M., Antonietti, M. & Polarz, S., 31 Aug. 2004, in: LANGMUIR. 20, 18, S. 7811-7819 9 S.

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5. Veröffentlicht

   Predicting the Breakdown Behavior of Microcontrollers Under EMP/UWB Impact Using a Statistical Analysis

   Camp, M., Gerth, H., Garbe, H. & Haase, H., 24 Aug. 2004, in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 46, 3, S. 368-379 12 S.

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6. Veröffentlicht

   Susceptibility of Some Electronic Equipment to HPEM Threats

   Nitsch, D., Camp, M., Sabath, F., ter Haseborg, J. L. & Garbe, H., 24 Aug. 2004, in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 46, 3, S. 380-389 10 S.

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7. In-device enzyme immobilization: Wafer-level fabrication of an integrated glucose sensor

   Zimmermann, S., Fienbork, D., Flounders, A. W. & Liepmann, D., 5 Aug. 2004, in: Sensors and Actuators, B: Chemical. 99, 1, S. 163-173 11 S.

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8. Microstructural refinement and deformation twinning during severe plastic deformation of 316L stainless steel at high temperatures

   Yapici, G. G., Karaman, I., Luo, Z. P., Maier, H. J. & Chumlyakov, Y. I., Aug. 2004, in: Journal of materials research. 19, 8, S. 2268-2278 11 S.

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9. Veröffentlicht

   Thixoforging of Steel Using Ceramic Tool Materials

   Behrens, B., Haller, B. & Fischer, D., Aug. 2004, in: Steel research international. 75, 8-9, S. 561-568 8 S.

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10. Veröffentlicht

    Tribosurface and lubricant characterization by ToF-SIMS

    Gunst, U., Zabel, W. R., Poll, G. & Arlinghaus, H. F., Aug. 2004, in: Surface and Interface Analysis. 36, 8, S. 1231-1235 5 S.

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11. Veröffentlicht

    Two-stage ordering processes under annealing of Sr submonolayers on Mo(1 1 2)

    Fedorus, A., Godzik, G., Naumovets, A. & Pfnür, H., 23 Juli 2004, in: Surface Science. 565, 2-3, S. 180-190 11 S.

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12. Veröffentlicht

    Shot noise in tunneling through a single quantum dot

    Nauen, A., Hohls, F., Maire, N., Pierz, K. & Haug, R. J., 13 Juli 2004, in: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics. 70, 3, 033305.

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13. Multiscale structure and properties of cast and deformation processed polycrystalline NiTi shape-memory alloys

    Frick, C. P., Ortega, A. M., Tyber, J., Gall, K. & Maier, H. J., Juli 2004, in: Metallurgical and Materials Transactions A: Physical Metallurgy and Materials Science. 35 A, 7, S. 2013-2025 13 S.

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14. Veröffentlicht

    Transformation Induced Martensite Evolution in Metal Forming Processes of Stainless Steels

    Behrens, B., Doege, E. & Springub, B., Juli 2004, in: Steel research international. 75, 7, S. 475-482 8 S.

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15. Veröffentlicht

    Structural modifications of quasi-one-dimensional submonolayers by impurity doping

    Godzik, G., Block, T. & Pfnür, H., 28 Juni 2004, in: Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics. 69, 23, S. 235414-1-235414-8 235414.

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16. 3D visualization of molecular simulations in high-performance parallel computing environments

    Meier, K., Holzknecht, C., Kabelac, S., Olbrich, S. & Chmielewski, K., 15 Juni 2004, in: Molecular Simulation. 30, 7, S. 469-477 9 S.

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17. Femtosecond pulse damage behavior of oxide dielectric thin films

    Mero, M., Liu, J., Zeller, J., Rudolph, W., Starke, K. & Ristau, D., 10 Juni 2004, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2003: 35th Annual Boulder Damage Symposium proceedings ; 22 - 24 September 2003, Boulder, Colorado. Bellingham: SPIE, S. 8-16 9 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 5273).

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18. Investigations in the nonlinear behavior of dielectrics by using ultrashort pulses

    Starke, K., Ristau, D., Welling, H., Amotchkina, T., Trubetskov, M. K., Chirkin, A. S. & Tikhonravov, A. A., 10 Juni 2004, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2003: 35th Annual Boulder Damage Symposium proceedings ; 22 - 24 September 2003, Boulder, Colorado. Bellingham: SPIE, S. 501-514 14 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 5273).

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19. Results of a Round-robin experiment in multiple-pulse LIDT measurement with ultrashort pulses

    Starke, K., Ristau, D., Martin, S., Hertwig, A., Krüger, J., Allenspacher, P., Riede, W., Meister, S., Theiss, C., Sabbah, A., Rudolph, W., Raab, V., Grigonis, R., Rakickas, T. & Sirutkaitis, V., 10 Juni 2004, Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2003: 35th Annual Boulder Damage Symposium proceedings ; 22 - 24 September 2003, Boulder, Colorado. Bellingham: SPIE, S. 388-395 8 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 5273).

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20. Surface investigation of VUV-optical components after exposure to high energetic synchrotron radiation

    Günster, S., Blaschke, H., Starke, K., Ristau, D., Danailov, M. B., Diviacco, B., Gatto, A., Kaiser, N., Sarto, F. & Masetti, E., 10 Juni 2004, Laser-induced damage in optical materials: 2003: 35th Annual Boulder Damage Symposium proceedings ; 22 - 24 September 2003, Boulder, Colorado. Bellingham: SPIE, S. 281-287 7 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 5273).

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21. Femtosecond breakdown and pre-breakdown behavior in dielectric thin films

    Mero, M., Liu, J., Sabbah, A. J., Zeller, J., Rudolph, W. G., Starke, K. & Ristau, D., 1 Juni 2004, Commercial and Biomedical Applications of Ultrafast Lasers IV: 27 - 29 January 2004, San Jose, California, USA. Bellingham: SPIE, S. 133-145 13 S. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 5340).

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