Relaxometrie bei 3T: Relaxivitätsbestimmungen von Nanopartikeln in Abhängigkeit von der Kerngröße bei 3Tesla.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

Autoren

  • Mg Kaul
  • N Bigall
  • H Ittrich
  • H Dahnke
  • H Weller
  • G Adam

Externe Organisationen

  • Technische Universität Dresden
Forschungs-netzwerk anzeigen

Details

OriginalspracheEnglisch
FachzeitschriftRoFo Fortschritte auf dem Gebiet der Rontgenstrahlen und der Bildgebenden Verfahren
Jahrgang178
AusgabenummerS 1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Jan. 2006
Extern publiziertJa

Zitieren

Relaxometrie bei 3T: Relaxivitätsbestimmungen von Nanopartikeln in Abhängigkeit von der Kerngröße bei 3Tesla. / Kaul, Mg; Bigall, N; Ittrich, H et al.
in: RoFo Fortschritte auf dem Gebiet der Rontgenstrahlen und der Bildgebenden Verfahren, Jahrgang 178, Nr. S 1, 01.01.2006.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

Download
@article{2e62163ecc86476cb606e3970b890103,
title = "Relaxometrie bei 3T: Relaxivit{\"a}tsbestimmungen von Nanopartikeln in Abh{\"a}ngigkeit von der Kerngr{\"o}{\ss}e bei 3Tesla.",
author = "Mg Kaul and N Bigall and H Ittrich and H Dahnke and H Weller and G Adam",
year = "2006",
month = jan,
day = "1",
doi = "10.1055/s-2006-940761",
language = "English",
volume = "178",
journal = "RoFo Fortschritte auf dem Gebiet der Rontgenstrahlen und der Bildgebenden Verfahren",
issn = "1438-9029",
publisher = "Georg Thieme Verlag",
number = "S 1",

}

Download

TY - JOUR

T1 - Relaxometrie bei 3T: Relaxivitätsbestimmungen von Nanopartikeln in Abhängigkeit von der Kerngröße bei 3Tesla.

AU - Kaul, Mg

AU - Bigall, N

AU - Ittrich, H

AU - Dahnke, H

AU - Weller, H

AU - Adam, G

PY - 2006/1/1

Y1 - 2006/1/1

U2 - 10.1055/s-2006-940761

DO - 10.1055/s-2006-940761

M3 - Article

VL - 178

JO - RoFo Fortschritte auf dem Gebiet der Rontgenstrahlen und der Bildgebenden Verfahren

JF - RoFo Fortschritte auf dem Gebiet der Rontgenstrahlen und der Bildgebenden Verfahren

SN - 1438-9029

IS - S 1

ER -

Von denselben Autoren