Details
Originalsprache | Englisch |
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Titel des Sammelwerks | Semiconductor Devices in Harsh Conditions |
Seiten | xiii-xvii |
ISBN (elektronisch) | 9781498743822 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 25 Nov. 2016 |
ASJC Scopus Sachgebiete
- Ingenieurwesen (insg.)
- Allgemeiner Maschinenbau
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Semiconductor Devices in Harsh Conditions. 2016. S. xiii-xvii.
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Vorwort/Nachwort › Forschung › Peer-Review
}
TY - CHAP
T1 - Preface
AU - Chrzanowska-Jeske, Małgorzata
AU - Weide-Zaage, Kirsten
N1 - Copyright: Copyright 2019 Elsevier B.V., All rights reserved.
PY - 2016/11/25
Y1 - 2016/11/25
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85059995289&partnerID=8YFLogxK
U2 - 10.1201/9781315368948
DO - 10.1201/9781315368948
M3 - Foreword/postscript
AN - SCOPUS:85059995289
SN - 9781498743808
SP - xiii-xvii
BT - Semiconductor Devices in Harsh Conditions
ER -