Details
Titel in Übersetzung | Correlation of the partial shielding analysis to the shielding effectiveness measurement |
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Originalsprache | Deutsch |
Titel des Sammelwerks | EMV 2010 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2010 |
Veranstaltung | Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Vertraglichkeit, EMV 2010 - Düsseldorf, Deutschland Dauer: 9 März 2010 → 11 März 2010 |
Publikationsreihe
Name | EMV 2010 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit |
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ASJC Scopus Sachgebiete
- Ingenieurwesen (insg.)
- Elektrotechnik und Elektronik
Zitieren
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EMV 2010 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. 2010. (EMV 2010 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit).
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
}
TY - GEN
T1 - Korrelation der Partiellen-Schirmungsanalyse zur Schirmdämpfungsmessung
AU - Reiser, Peter
AU - Garbe, Heyno
PY - 2010
Y1 - 2010
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=84882399886&partnerID=8YFLogxK
M3 - Aufsatz in Konferenzband
AN - SCOPUS:84882399886
SN - 9783800732067
T3 - EMV 2010 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit
BT - EMV 2010 - Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit
T2 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Vertraglichkeit, EMV 2010
Y2 - 9 March 2010 through 11 March 2010
ER -