Details
| Originalsprache | Deutsch |
|---|---|
| Titel des Sammelwerks | Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering |
| Seiten | 35-44 |
| Seitenumfang | 10 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2006 |
Publikationsreihe
| Name | VDI-Berichte |
|---|---|
| Band | 1950 |
| ISSN (Print) | 0083-5560 |
ASJC Scopus Sachgebiete
- Ingenieurwesen (insg.)
- Allgemeiner Maschinenbau
Zitieren
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Heißprägen Multifunktionaler Kalibriernormale für die Optische 3D Mikroskopie Beurteilung Gerätespezifischer Eigenschaften. / Reithmeier, E.; Frühauf, Joachim; Rahlves, Maik et al.
Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering. 2006. S. 35-44 (VDI-Berichte; Band 1950).
Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering. 2006. S. 35-44 (VDI-Berichte; Band 1950).
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelwerk › Forschung › Peer-Review
Reithmeier, E, Frühauf, J, Rahlves, M, Kraft, A & Seifert, M 2006, Heißprägen Multifunktionaler Kalibriernormale für die Optische 3D Mikroskopie Beurteilung Gerätespezifischer Eigenschaften. in Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering. VDI-Berichte, Bd. 1950, S. 35-44.
Reithmeier, E., Frühauf, J., Rahlves, M., Kraft, A., & Seifert, M. (2006). Heißprägen Multifunktionaler Kalibriernormale für die Optische 3D Mikroskopie Beurteilung Gerätespezifischer Eigenschaften. In Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering (S. 35-44). (VDI-Berichte; Band 1950).
Reithmeier E, Frühauf J, Rahlves M, Kraft A, Seifert M. Heißprägen Multifunktionaler Kalibriernormale für die Optische 3D Mikroskopie Beurteilung Gerätespezifischer Eigenschaften. in Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering. 2006. S. 35-44. (VDI-Berichte).
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TY - CHAP
T1 - Heißprägen Multifunktionaler Kalibriernormale für die Optische 3D Mikroskopie Beurteilung Gerätespezifischer Eigenschaften
AU - Reithmeier, E.
AU - Frühauf, Joachim
AU - Rahlves, Maik
AU - Kraft, Arne
AU - Seifert, Mario
PY - 2006
Y1 - 2006
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=33846170106&partnerID=8YFLogxK
M3 - Beitrag in Buch/Sammelwerk
AN - SCOPUS:33846170106
SN - 3180919507
SN - 9783180919508
T3 - VDI-Berichte
SP - 35
EP - 44
BT - Messtechnik für Mikro- und Nano-Engineering
ER -