Details
| Titel in Übersetzung | Geometric uncertainty analysis of TEM circular coaxial cells |
|---|---|
| Originalsprache | Deutsch |
| Titel des Sammelwerks | EMV 2020 |
| Untertitel | Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit |
| Herausgeber/-innen | Heyno Garbe |
| Seiten | 283-290 |
| Seitenumfang | 8 |
| ISBN (elektronisch) | 9783863598266 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2020 |
| Veranstaltung | 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020 - Köln, Deutschland Dauer: 17 März 2020 → 19 März 2020 |
ASJC Scopus Sachgebiete
- Ingenieurwesen (insg.)
- Elektrotechnik und Elektronik
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Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. / Pham, Hoang Duc; Garbe, Heyno.
EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. Hrsg. / Heyno Garbe. 2020. S. 283-290.
EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. Hrsg. / Heyno Garbe. 2020. S. 283-290.
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung
Pham, HD & Garbe, H 2020, Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. in H Garbe (Hrsg.), EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. S. 283-290, 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020, Köln, Deutschland, 17 März 2020.
Pham, H. D., & Garbe, H. (2020). Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. In H. Garbe (Hrsg.), EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit (S. 283-290)
Pham HD, Garbe H. Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen. in Garbe H, Hrsg., EMV 2020: Internationale Fachmesse und Kongress fur Elektromagnetische Vertraglichkeit. 2020. S. 283-290
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@inproceedings{30a406fbf04e4175923e7053eae0ad4b,
title = "Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen",
author = "Pham, {Hoang Duc} and Heyno Garbe",
year = "2020",
language = "Deutsch",
pages = "283--290",
editor = "Heyno Garbe",
booktitle = "EMV 2020",
note = "2020 Internationale Fachmesse und Kongress f{\"u}r Elektromagnetische Vertr{\"a}glichkeit, EMV 2020 ; Conference date: 17-03-2020 Through 19-03-2020",
}
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TY - GEN
T1 - Geometrische Unsicherheitsbetrachtung von rundkoaxialen TEM-Zellen
AU - Pham, Hoang Duc
AU - Garbe, Heyno
PY - 2020
Y1 - 2020
UR - https://doi.org/10.15488/10002
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85092063779&partnerID=8YFLogxK
M3 - Aufsatz in Konferenzband
AN - SCOPUS:85092063779
SP - 283
EP - 290
BT - EMV 2020
A2 - Garbe, Heyno
T2 - 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020
Y2 - 17 March 2020 through 19 March 2020
ER -