Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschung

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OriginalspracheDeutsch
Titel des SammelwerksMessunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis
ErscheinungsortDüsseldorf
Seiten81-88
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015

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Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. / Matthias, Steffen; Schlobohm, Jochen; Kästner, Markus et al.
Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf, 2015. S. 81-88.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschung

Matthias, S, Schlobohm, J, Kästner, M & Reithmeier, E 2015, Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. in Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf, S. 81-88.
Matthias, S., Schlobohm, J., Kästner, M., & Reithmeier, E. (2015). Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. In Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis (S. 81-88).
Matthias S, Schlobohm J, Kästner M, Reithmeier E. Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. in Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf. 2015. S. 81-88
Matthias, Steffen ; Schlobohm, Jochen ; Kästner, Markus et al. / Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung. Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis. Düsseldorf, 2015. S. 81-88
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TY - GEN

T1 - Gegenüberstellung zweier Messsysteme zur Geometrieerfassung mittels strukturierter Beleuchtung

AU - Matthias, Steffen

AU - Schlobohm, Jochen

AU - Kästner, Markus

AU - Reithmeier, Eduard

PY - 2015

Y1 - 2015

M3 - Aufsatz in Konferenzband

SN - 978-3-18-092269-0

SP - 81

EP - 88

BT - Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen und Prüfprozesse in der industriellen Praxis

CY - Düsseldorf

ER -

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