Details
| Titel in Übersetzung | Development of direct power injection circuit boards to determine the interference of microcontrollers on the basis of IEMI up to 1 GHz in conducting path structures |
|---|---|
| Originalsprache | Deutsch |
| Titel des Sammelwerks | Creating a compatible future |
| Herausgeber/-innen | Heyno Garbe |
| Seiten | 265-272 |
| Seitenumfang | 8 |
| ISBN (elektronisch) | 9783863598266 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2020 |
| Veranstaltung | 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020 - Köln, Deutschland Dauer: 17 März 2020 → 19 März 2020 |
ASJC Scopus Sachgebiete
- Ingenieurwesen (insg.)
- Elektrotechnik und Elektronik
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Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. / Burghardt, Felix; Bohse, Johannes; Garbe, Heyno.
Creating a compatible future. Hrsg. / Heyno Garbe. 2020. S. 265-272.
Creating a compatible future. Hrsg. / Heyno Garbe. 2020. S. 265-272.
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung
Burghardt, F, Bohse, J & Garbe, H 2020, Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. in H Garbe (Hrsg.), Creating a compatible future. S. 265-272, 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020, Köln, Deutschland, 17 März 2020.
Burghardt, F., Bohse, J., & Garbe, H. (2020). Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. In H. Garbe (Hrsg.), Creating a compatible future (S. 265-272)
Burghardt F, Bohse J, Garbe H. Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen. in Garbe H, Hrsg., Creating a compatible future. 2020. S. 265-272
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title = "Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeintr{\"a}chtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen",
author = "Felix Burghardt and Johannes Bohse and Heyno Garbe",
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editor = "Heyno Garbe",
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TY - GEN
T1 - Entwicklung von Direct Power Injection Platinen zur Bestimmung der Beeinträchtigung von Mikrocontrollern aufgrund von IEMI bis 1 GHz in Leiterbahnstrukturen
AU - Burghardt, Felix
AU - Bohse, Johannes
AU - Garbe, Heyno
PY - 2020
Y1 - 2020
UR - https://doi.org/10.15488/10002
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85092020273&partnerID=8YFLogxK
M3 - Aufsatz in Konferenzband
AN - SCOPUS:85092020273
SP - 265
EP - 272
BT - Creating a compatible future
A2 - Garbe, Heyno
T2 - 2020 Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2020
Y2 - 17 March 2020 through 19 March 2020
ER -