Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

Autoren

  • Karl-Philipp Kortmann
  • Alexander Seel
  • Johannes Zumsande
  • Mark Wielitzka
  • Tobias Ortmaier

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Details

Titel in ÜbersetzungDevelopment of a Stochastic Workpiece Tracking within (Semi-)Automated Production Processes
OriginalspracheDeutsch
Titel des SammelwerksFachtagung Mechatronik 2019
ErscheinungsortPaderborn
Seiten225-230
Seitenumfang6
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019

Abstract

In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

Zitieren

Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. / Kortmann, Karl-Philipp; Seel, Alexander; Zumsande, Johannes et al.
Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn, 2019. S. 225-230.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review

Kortmann, K-P, Seel, A, Zumsande, J, Wielitzka, M & Ortmaier, T 2019, Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. in Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn, S. 225-230. https://doi.org/doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann, K.-P., Seel, A., Zumsande, J., Wielitzka, M., & Ortmaier, T. (2019). Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. In Fachtagung Mechatronik 2019 (S. 225-230). https://doi.org/doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann KP, Seel A, Zumsande J, Wielitzka M, Ortmaier T. Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. in Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn. 2019. S. 225-230 doi: doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann, Karl-Philipp ; Seel, Alexander ; Zumsande, Johannes et al. / Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. Fachtagung Mechatronik 2019. Paderborn, 2019. S. 225-230
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author = "Karl-Philipp Kortmann and Alexander Seel and Johannes Zumsande and Mark Wielitzka and Tobias Ortmaier",
year = "2019",
doi = "doi.org/10.17619/UNIPB/1-775",
language = "Deutsch",
pages = "225--230",
booktitle = "Fachtagung Mechatronik 2019",

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TY - GEN

T1 - Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse

AU - Kortmann, Karl-Philipp

AU - Seel, Alexander

AU - Zumsande, Johannes

AU - Wielitzka, Mark

AU - Ortmaier, Tobias

PY - 2019

Y1 - 2019

N2 - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

AB - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

U2 - doi.org/10.17619/UNIPB/1-775

DO - doi.org/10.17619/UNIPB/1-775

M3 - Aufsatz in Konferenzband

SP - 225

EP - 230

BT - Fachtagung Mechatronik 2019

CY - Paderborn

ER -