Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse

Publikation: KonferenzbeitragPaperForschungPeer-Review

Autoren

  • Karl-Philipp Kortmann
  • Alexander Seel
  • Johannes Zumsande
  • Mark Wielitzka
  • Tobias Ortmaier

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Details

OriginalspracheDeutsch
Seiten225-230
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019
VeranstaltungFachtagung Mechatronik - Universität Paderborn, Paderborn, Deutschland
Dauer: 27 März 201928 März 2019

Workshop

WorkshopFachtagung Mechatronik
Land/GebietDeutschland
OrtPaderborn
Zeitraum27 März 201928 März 2019

Abstract

In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

Zitieren

Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. / Kortmann, Karl-Philipp; Seel, Alexander; Zumsande, Johannes et al.
2019. 225-230 Beitrag in Fachtagung Mechatronik, Paderborn, Nordrhein-Westfalen, Deutschland.

Publikation: KonferenzbeitragPaperForschungPeer-Review

Kortmann, K-P, Seel, A, Zumsande, J, Wielitzka, M & Ortmaier, T 2019, 'Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse', Beitrag in Fachtagung Mechatronik, Paderborn, Deutschland, 27 März 2019 - 28 März 2019 S. 225-230. https://doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann, K.-P., Seel, A., Zumsande, J., Wielitzka, M., & Ortmaier, T. (2019). Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. 225-230. Beitrag in Fachtagung Mechatronik, Paderborn, Nordrhein-Westfalen, Deutschland. https://doi.org/10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann KP, Seel A, Zumsande J, Wielitzka M, Ortmaier T. Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. 2019. Beitrag in Fachtagung Mechatronik, Paderborn, Nordrhein-Westfalen, Deutschland. doi: 10.17619/UNIPB/1-775
Kortmann, Karl-Philipp ; Seel, Alexander ; Zumsande, Johannes et al. / Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse. Beitrag in Fachtagung Mechatronik, Paderborn, Nordrhein-Westfalen, Deutschland.
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author = "Karl-Philipp Kortmann and Alexander Seel and Johannes Zumsande and Mark Wielitzka and Tobias Ortmaier",
year = "2019",
doi = "10.17619/UNIPB/1-775",
language = "Deutsch",
pages = "225--230",
note = "Fachtagung Mechatronik ; Conference date: 27-03-2019 Through 28-03-2019",

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TY - CONF

T1 - Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse

AU - Kortmann, Karl-Philipp

AU - Seel, Alexander

AU - Zumsande, Johannes

AU - Wielitzka, Mark

AU - Ortmaier, Tobias

PY - 2019

Y1 - 2019

N2 - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

AB - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.

U2 - 10.17619/UNIPB/1-775

DO - 10.17619/UNIPB/1-775

M3 - Paper

SP - 225

EP - 230

T2 - Fachtagung Mechatronik

Y2 - 27 March 2019 through 28 March 2019

ER -