Details
Originalsprache | Deutsch |
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Seiten | 225-230 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2019 |
Veranstaltung | Fachtagung Mechatronik - Universität Paderborn, Paderborn, Deutschland Dauer: 27 März 2019 → 28 März 2019 |
Workshop
Workshop | Fachtagung Mechatronik |
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Land/Gebiet | Deutschland |
Ort | Paderborn |
Zeitraum | 27 März 2019 → 28 März 2019 |
Abstract
Zitieren
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2019. 225-230 Beitrag in Fachtagung Mechatronik, Paderborn, Nordrhein-Westfalen, Deutschland.
Publikation: Konferenzbeitrag › Paper › Forschung › Peer-Review
}
TY - CONF
T1 - Entwicklung eines stochastischen Werkstücktrackings für (teil-)automatisierte Produktionsprozesse
AU - Kortmann, Karl-Philipp
AU - Seel, Alexander
AU - Zumsande, Johannes
AU - Wielitzka, Mark
AU - Ortmaier, Tobias
PY - 2019
Y1 - 2019
N2 - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.
AB - In dieser Arbeit wird ein neues Verfahren zur datenbasierten Schätzung des zeitlichen Aufenthalts einzelner Werkstückeoder anderer diskreter Zwischenerzeugnisse in einem komplexen mechatronischen Produktionsprozess vorgestellt. Dasgezeigte Verfahren eignet sich insbesondere für teilautomatisierte Produktionsprozesse, die nicht vollständig digitalisiertsind oder bei denen ein hardwarebasiertes Tracking (z. B. mittels RFID) durch die Umgebungsumstände nicht möglich ist.Hierzu wird der Produktionsprozess zunächst in ein stochastisches Modell auf Basis eines gerichteten Graphen überführt.Der Optimierungsalgorithmus nutzt die Zeitstempel der zur Verfügung stehenden Feldbusdaten der Anlagensteuerungen,um den wahrscheinlichsten Pfad einzelner Objekte durch den Produktionsprozess zu rekonstruieren.Das Verfahren konnte in ersten Testphasen an simulierten Prozessdaten exemplarisch validiert werden.
U2 - 10.17619/UNIPB/1-775
DO - 10.17619/UNIPB/1-775
M3 - Paper
SP - 225
EP - 230
T2 - Fachtagung Mechatronik
Y2 - 27 March 2019 through 28 March 2019
ER -