Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Titel des Sammelwerks | Optical Systems Design 2015 |
| Untertitel | Advances in Optical Thin Films V |
| Herausgeber (Verlag) | SPIE |
| ISBN (elektronisch) | 9781628418163 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 23 Sept. 2015 |
| Veranstaltung | Optical Systems Design 2015: Advances in Optical Thin Films V - Jena, Deutschland Dauer: 7 Sept. 2015 → 10 Sept. 2015 |
Publikationsreihe
| Name | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
|---|---|
| Band | 9627 |
| ISSN (Print) | 0277-786X |
| ISSN (elektronisch) | 1996-756X |
ASJC Scopus Sachgebiete
- Werkstoffwissenschaften (insg.)
- Elektronische, optische und magnetische Materialien
- Physik und Astronomie (insg.)
- Physik der kondensierten Materie
- Informatik (insg.)
- Angewandte Informatik
- Mathematik (insg.)
- Angewandte Mathematik
- Ingenieurwesen (insg.)
- Elektrotechnik und Elektronik
Zitieren
- Standard
- Harvard
- Apa
- Vancouver
- BibTex
- RIS
Optical Systems Design 2015: Advances in Optical Thin Films V. SPIE, 2015. 96271S (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 9627).
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
}
TY - GEN
T1 - Direct in situ GDD measurement in optical coating process
AU - Schlichting, S.
AU - Willemsen, Thomas
AU - Ehlers, Henrik
AU - Morgner, Uwe
AU - Ristau, Detlev
PY - 2015/9/23
Y1 - 2015/9/23
KW - chirped mirrors
KW - FTSI
KW - GD
KW - GDD
KW - in situ measurement
KW - optical coatings
KW - optical thin films
KW - STFT
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=84960844138&partnerID=8YFLogxK
U2 - 10.1117/12.2191215
DO - 10.1117/12.2191215
M3 - Conference contribution
AN - SCOPUS:84960844138
T3 - Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
BT - Optical Systems Design 2015
PB - SPIE
T2 - Optical Systems Design 2015: Advances in Optical Thin Films V
Y2 - 7 September 2015 through 10 September 2015
ER -