Details
Originalsprache | Englisch |
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Titel des Sammelwerks | 2008 Conference on Quantum Electronics and Laser Science Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO/QELS |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2008 |
Veranstaltung | Conference on Quantum Electronics and Laser Science Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO/QELS 2008 - San Jose, CA, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 4 Mai 2008 → 9 Mai 2008 |
ASJC Scopus Sachgebiete
- Ingenieurwesen (insg.)
- Elektrotechnik und Elektronik
- Werkstoffwissenschaften (insg.)
- Elektronische, optische und magnetische Materialien
Zitieren
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2008 Conference on Quantum Electronics and Laser Science Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO/QELS. 2008. 4551981.
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
}
TY - GEN
T1 - Comparative study of index of refraction
T2 - Conference on Quantum Electronics and Laser Science Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO/QELS 2008
AU - Rinkleff, R. H.
AU - Spani Molella, L.
AU - Rocco, A.
AU - Wicht, A.
AU - Danzmann, K.
PY - 2008
Y1 - 2008
UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=51349164866&partnerID=8YFLogxK
U2 - 10.1109/CLEO.2008.4551981
DO - 10.1109/CLEO.2008.4551981
M3 - Conference contribution
AN - SCOPUS:51349164866
SN - 1557528594
SN - 9781557528599
BT - 2008 Conference on Quantum Electronics and Laser Science Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO/QELS
Y2 - 4 May 2008 through 9 May 2008
ER -