Charge carrier dynamics at TiO2 particles: Reactivity of free and trapped holes

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

Autoren

  • D.W. Bahnemann
  • M. Hilgendorff
  • R. Memming

Organisationseinheiten

Forschungs-netzwerk anzeigen

Details

OriginalspracheEnglisch
FachzeitschriftJournal of Physical Chemistry B
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1997

Zitieren

Charge carrier dynamics at TiO2 particles: Reactivity of free and trapped holes. / Bahnemann, D.W.; Hilgendorff, M.; Memming, R.
in: Journal of Physical Chemistry B, 1997.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

Download
@article{e5df2798d0f742febcbd863a2898e29d,
title = "Charge carrier dynamics at TiO2 particles: Reactivity of free and trapped holes",
author = "D.W. Bahnemann and M. Hilgendorff and R. Memming",
year = "1997",
language = "English",
journal = "Journal of Physical Chemistry B",
issn = "1520-6106",
publisher = "American Chemical Society",

}

Download

TY - JOUR

T1 - Charge carrier dynamics at TiO2 particles: Reactivity of free and trapped holes

AU - Bahnemann, D.W.

AU - Hilgendorff, M.

AU - Memming, R.

PY - 1997

Y1 - 1997

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0000399540&partnerID=MN8TOARS

M3 - Article

JO - Journal of Physical Chemistry B

JF - Journal of Physical Chemistry B

SN - 1520-6106

ER -