Publikationen
- 2009
- Veröffentlicht
Growth of Epitaxial Lanthanide Oxide based Gate Dielectrics
Osten, H. J., Laha, A., Bugiel, E., Schwendt, D. & Fissel, A., 2009, 2009 3rd International Conference on Signals, Circuits & Systems: (SCS). 5414212Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Simulation and Modeling of I/O Protocol Processing with Application of Network Interface Design Exploration
Septinus, K., Nowosielski, R., Pirsch, P. & Blume, H., 2009, Elektronische Medien: Vorträge des 10. Dortmunder Fernsehseminars vom 29. September bis 1. Oktober 2003 in Dortmund. Berlin: VDE Verlag GmbH, S. 515-521 (ITG-Fachbericht; Band 179).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung
- Veröffentlicht
Structural and strain relaxation study of epitaxially grown nanothick Nd2O3/Si(111) heterostructure
Wang, J., Laha, A., Fissel, A., Schwendt, D., Dargis, R., Watahiki, T., Shayduk, R., Braun, W., Liu, T. & Osten, H. J., 2009, 4th IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, NEMS 2009. S. 436-440 5 S. 5068613. (4th IEEE International Conference on Nano/Micro Engineered and Molecular Systems, NEMS 2009).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2008
- Veröffentlicht
Electronic structure at interfaces of cubic Gd2O3 with embedded Si nanocrystals
Badylevich, M., Shamuilia, S., Afanas'ev, V. V., Stesmans, A., Laha, A., Osten, H. J. & Fissel, A., Dez. 2008, in: Microelectronic engineering. 85, 12, S. 2382-2384 3 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Si-nanoclusters embedded into epitaxial rare earth oxides: Potential candidate for nonvolatile memory applications
Laha, A., Bugiel, E., Fissel, A. & Osten, H. J., Dez. 2008, in: Microelectronic engineering. 85, 12, S. 2350-2353 4 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Band offsets between Si and epitaxial rare earth sesquioxides (RE 2O3, RE=La,Nd,Gd,Lu): Effect of 4f -shell occupancy
Afanas'ev, V. V., Badylevich, M., Stesmans, A., Laha, A., Osten, H. J., Fissel, A., Tian, W., Edge, L. F. & Schlom, D. G., 11 Nov. 2008, in: Applied physics letters. 93, 19, 192105.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Effect of domain boundaries on the electrical properties of crystalline Gd2 O3 thin films
Laha, A., Bugiel, E., Wang, J. X., Sun, Q. Q., Fissel, A. & Osten, H. J., 6 Nov. 2008, in: Applied physics letters. 93, 18, 182907.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Simulation of migration effects in solder bumps
Weide-Zaage, K., Sept. 2008, in: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 8, 3, S. 442-448 7 S., 4595633.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Observation of near interface oxide traps in single crystalline Nd2 O3 on Si(111) by quasistatic C-V method
Sun, Q. Q., Laha, A., Ding, S. J., Zhang, D. W., Osten, H. J. & Fissel, A., 27 Aug. 2008, in: Applied physics letters. 93, 8, 083509.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Determination of migration effects in Cu-via structures with respect to process-induced stress
Weide-Zaage, K., Zhao, J., Ciptokusumo, J. & Aubel, O., Aug. 2008, in: Microelectronics reliability. 48, 8-9, S. 1393-1397 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Embedding silicon nanoclusters into epitaxial rare earth oxide for nonvolatile memory applications
Laha, A., Kühne, D., Bugiel, E., Fissel, A. & Osten, H. J., Aug. 2008, in: Semiconductor Science and Technology. 23, 8, S. 85015 1 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Simulation of migration effects in nanoscaled copper metallizations
Weide-Zaage, K., Kashanchi, F. & Aubel, O., Aug. 2008, in: Microelectronics reliability. 48, 8-9, S. 1398-1402 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Effective passivation of slow interface states at the interface of single crystalline Gd2 O3 and Si(100)
Sun, Q. Q., Laha, A., Ding, S. J., Zhang, D. W., Osten, H. J. & Fissel, A., 18 Apr. 2008, in: Applied physics letters. 92, 15, 152908.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Introducing crystalline rare-earth oxides into Si technologies
Osten, H. J., Laha, A., Czernohorsky, M., Bugiel, E., Dargis, R. & Fissel, A., Apr. 2008, in: Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science. 205, 4, S. 695-707 13 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Silicon in functional epitaxial oxides: A new group of nanostructures
Fissel, A., Laha, A., Bugiel, E., Kühne, D., Czernohorsky, M., Dargis, R. & Osten, H. J., März 2008, in: Microelectronics journal. 39, 3-4, S. 512-517 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Electrical Characterization of Ultrathin Single Crystalline Gd20 3/Si(100) with Pt Top Electrode
Sun, Q. Q., Laha, A., Osten, H. J., Ding, S. J., Zhang, D. W. & Fissel, A., 2008, 2008 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology Proceedings: ICSICT 2008. S. 1276-1279 4 S. 4734784. (International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology Proceedings, ICSICT).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Integration of low dimensional crystalline Si into functional epitaxial oxides for next generation solar cell application
Laha, A., Fissel, A., Bugiel, E., Badylevich, M., Afanasiev, V. & Osten, H. J., 2008, Proceedings of the 2008 Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices: COMMAD'08. S. 166-169 4 S. 4802118. (Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices, Proceedings, COMMAD).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Simulation of migration effects in PoP
Weide-Zaage, K., Fremont, H. & Wang, L., 2008, EuroSimE 2008 - International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Micro-Systems. 4525074. (EuroSimE 2008 - International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Micro-Systems).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2007
- Veröffentlicht
Engineering the interface between epitaxial lanthanide oxide thin films and Si substrates: a route towards tuning the electrical properties
Laha, A., Fissel, A. & Osten, H. J., Sept. 2007, in: Microelectronic engineering. 84, 9-10, S. 2282-2285 4 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Investigation of the electronic structure at interfaces of crystalline and amorphous Gd2O3 thin layers with silicon substrates of different orientations
Badylevich, M., Shamuilia, S., Afanas'ev, V. V., Stesmans, A., Laha, A., Osten, H. J. & Fissel, A., 18 Juni 2007, in: Applied physics letters. 90, 25, 252101.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review