Publikationen
- 2019
- Veröffentlicht
Design Space Exploration von Architekturen zur echtzeitfähigen Implementierung schneller Backprojection-Verfahren
Wielage, M., 2019, 1. Auflage Aufl. München. 165 S. (Informationstechnik)Publikation: Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Monografie › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Design Space Exploration von Architekturen zur echtzeitfähigen Implementierung schneller Backprojection-Verfahren
Wielage, M., 2019, Hannover. 165 S.Publikation: Qualifikations-/Studienabschlussarbeit › Dissertation
- 2018
- Veröffentlicht
Graphical Model MAP Inference with Continuous Label Space in Computer Vision
Müller, O., 2018, 1. Auflage Aufl. Düsseldorf. 141 S. (Informatik/ Kommunikation; Band 860)Publikation: Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Monografie › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Graphical Model MAP Inference with Continuous Label Space in Computer Vision
Müller, O., 2018Publikation: Qualifikations-/Studienabschlussarbeit › Dissertation
- Veröffentlicht
Manifold Learning for Super Resolution
Pérez Pellitero, E., 2018, 1 Aufl. Düsseldorf. 114 S. (Informatik/ Kommunikation; Band 859)Publikation: Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Monografie › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Manifold Learning for Super Resolution
Pérez Pellitero, E., 2018, 114 S.Publikation: Qualifikations-/Studienabschlussarbeit › Dissertation
- 2017
- Veröffentlicht
Inner tegument proteins of Herpes Simplex Virus are sufficient for intracellular capsid motility in neurons but not for axonal targeting
Buch, A., Müller, O., Ivanova, L., Döhner, K., Bialy, D., Bosse, J. B., Pohlmann, A., Binz, A., Hegemann, M., Nagel, C. H., Koltzenburg, M., Viejo-Borbolla, A., Rosenhahn, B., Bauerfeind, R. & Sodeik, B., 28 Dez. 2017, in: PLoS pathogens. 13, 12, S. e1006813Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
High Performance and Low Power Architectures: GPU vs. FPGA for Fast Factorized Backprojection
Wielage, M., Cholewa, F., Fahnemann, C., Pirsch, P. & Blume, H., 2 Juli 2017, 2017 Fifth International Symposium on Computing and Networking. IEEE Computer Society, S. 351-357 7 S.Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
In Situ Waveform Measurements Within Doherty Power Amplifier Under Operational Conditions
Probst, S., Denicke, E. & Geck, B., Juni 2017, in: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 65, 6, S. 2192-2200 9 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- 2016
- Veröffentlicht
PSyCo: Manifold Span Reduction for Super Resolution
Perez-Pellitero, E., Salvador, J., Ruiz-Hidalgo, J. & Rosenhahn, B., 9 Dez. 2016, Proceedings: 29th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, CVPR 2016. IEEE Computer Society, S. 1837-1845 9 S. 7780572. (Proceedings of the IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition; Band 2016-December).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Elektronisch veröffentlicht (E-Pub)
Tracking with multi-level features
Henschel, R., Leal-Taixé, L., Rosenhahn, B. & Schindler, K., 25 Juli 2016, (Elektronisch veröffentlicht (E-Pub)).Publikation: Arbeitspapier/Preprint › Preprint
- Veröffentlicht
Antipodally invariant metrics for fast regression-based super-resolution
Perez-Pellitero, E., Salvador, J., Ruiz-Hidalgo, J. & Rosenhahn, B., Juni 2016, in: IEEE Transactions on Image Processing. 25, 6, S. 2456-2468 13 S., 7445242.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Half hypersphere confinement for piecewise linear regression
Perez-Pellitero, E., Salvador, J., Ruiz-Hidalgo, J. & Rosenhahn, B., 23 Mai 2016, 2016 IEEE Winter Conference on Applications of Computer Vision, WACV 2016. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 7477651Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2015
- Veröffentlicht
Dynamical IMC-growth calculation
Meinshausen, L., Weide-Zaage, K. & Frémont, H., Aug. 2015, in: Microelectronics reliability. 55, 9-10, S. 1832-1837 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Effect of thermal aging on the electrical resistivity of Fe-added SAC105 solder alloys
Sabri, M. F. M., Nordin, N. I. M., Said, S. M., Amin, N. A. A. M., Arof, H., Jauhari, I., Ramli, R. & Weide-Zaage, K., Aug. 2015, in: Microelectronics reliability. 55, 9-10, S. 1882-1885 4 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Life time characterization for a highly robust metallization
Weide-Zaage, K., Kludt, Ackermann, M., Hein, V. & Erstling, M., 6 Mai 2015, 2015 16th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, EuroSimE 2015. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 7103123Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Fast super-resolution via dense local training and inverse regressor search
Pérez-Pellitero, E., Salvador, J., Torres-Xirau, I., Ruiz-Hidalgo, J. & Rosenhahn, B., 16 Apr. 2015, ACCV 2014: Computer Vision -- ACCV 2014. Band 9005. S. 346-359 14 S. (Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics)).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Electro- and thermomigration induced Cu3Sn and Cu6Sn5 formation in SnAg3.0Cu0.5 bumps
Meinshausen, L., Frémont, H., Weide-Zaage, K. & Plano, B., 1 Jan. 2015, in: Microelectronics reliability. 55, 1, S. 192-200 9 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- 2014
- Veröffentlicht
Degradation behavior in upstream/downstream via test structures
Kludt, J., Weide-Zaage, K., Ackermann, M., Hein, V. & Kovács, C., 1 Sept. 2014, in: Microelectronics reliability. 54, 9-10, S. 1724-1728 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Evaluation new corner stress relief structure layout for high robust metallization
Hein, V., Kludt, J. & Weide-Zaage, K., 1 Sept. 2014, in: Microelectronics reliability. 54, 9-10, S. 1977-1981 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review