Analysis of unbalances of crank shafts using geometric data

Gillhaus, R., Kästner, M., Haskamp, K., Abo-Namous, O. & Reithmeier, E., 2009, Proceedings of the 9th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2009. Van Brussel, H., Burke, T., Spaan, H., Brinksmeier, E., Burke, T. & Burke, T. (Hrsg.). S. 287-290 4 S. (Proceedings of the 9th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2009; Band 2).

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Application of an Optomechanical Image Derotator for Measuring Vibration and Deformation of Rotating Objects

Mirzaei, S., Rahlves, M., Fahlbusch, T. & Reithmeier, E., 2009, Proceedings of the 4th International Conference on Optical Measurement Techniques for Structures & Systems - OPTIMESS2009: Antwerp, Belgium, 25-26 May 2009. Dirckx, J. J. J. & Buytaert, J. A. N. (Hrsg.). Maastricht, 9 S.

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Aufbau eines statischen low-cost Fourierspektrometers

Buse, O. & Reithmeier, E., 2009, Proceedings: MikroSystemTechnik-Kongress 2009 : 12.-14. Oktober 20009, Berlin. Berlin: VDE Verlag GmbH, 4 S. P1.18

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Combined control for computationally efficient active noise reduction in aviation headsets

Graf, J. & Reithmeier, E., 2009, Proceedings: MATHMOD 09 : 6th Vienna Conference on Mathematical Modelling, Vienna, February 11-13, 2009, Vienna University of Technology, Austria ; full papers CD volume. Troch, I. (Hrsg.). Wien, S. 411-415

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Enhanced stereo SEM measurement of sub-micrometer structures

Schultheis, T., Vynnyk, T., Fahlbusch, T. & Reithmeier, E., 2009, EOS Topical Meetings in Capri 2009: 27-30 September 2009, Capri, Italy. Hannover, 3 S.

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Generierung optisch kooperativer Oberflächen für die Streifenprojektion

Abo-Namous, O., Kästner, M. & Reithmeier, E., 2009, Zweiter Workshop Optische Technologien: 17. November 2008 ; Tagungsband. Fahlbusch, T. (Hrsg.). Garbsen, S. 175-177 3 S.

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Measurement and characterisation of microstructures made by cutting processes

Bretschneider, M., Kästner, M. & Reithmeier, E., 2009, Proceedings of the 9th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2009. Van Brussel, H., Burke, T., Spaan, H., Brinksmeier, E., Burke, T. & Burke, T. (Hrsg.). S. 223-226 4 S. (Proceedings of the 9th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2009; Band 2).

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Metrology and Characterisation of Thermally Sprayed Coatings

Bretschneider, M., Kästner, M. & Reithmeier, E., 2009, The 12th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces: [... at the Rzeszow University of Technology from Wednesday 8 July to Friday 10 July 2009]. Amsterdam: Elsevier, S. 317-321 5 S. (Wear_372work; Band 271.2011,3/4).

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Optische Schlupfmessung an rotierenden Wälzlagern und deren Auswertung mit digitaler Bildverarbeitungstechnik

Mirzaei, S., Fahlbusch, T., Reithmeier, E. & Poll, G., 2009, Gleit- und Wälzlagerungen: Gestaltung, Berechnung, Einsatz ; [Tagung] Wiesloch bei Heidelberg, 9. und 10. Juni 2009. Düsseldorf, S. 91-102 12 S. (VDI-Berichte; Band 2069).

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Sensorintegration zur Feinpositionierung von Präzisionsgeschmiedeten Bauteilen

Gillhaus, R., Kästner, M., Seewig, J. & Reithmeier, E., 6 März 2008, Sensoren und Messsysteme 2008. S. 841-850 10 S. (VDI-Berichte; Band 2011).

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3D-Data Acquisition, Processing and Analysis of Gear Shaft Measurements Using Optical Sensors

Gillhaus, R., Kästner, M., Seewig, J. & Reithmeier, E., 2008, Coordinate measuring technique: problems and implementations ; [a selection of papers which were presented during the VIIIth International Science Conference Coordinate Measuring Technique, 31.3.-2.4.2008, Bielsko-Biala]. Ratajczyk, E. (Hrsg.). Bielsko-Biala, 7 S.

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3D Surface Measurement by Low Voltage Scanning Electron Microscope

Vynnyk, T., Seewig, J. & Reithmeier, E., 2008, Proceedings: XII. International Colloquium on Surfaces : Januar 28th and 29th, 2008, Germany, Chemnitz. Dietzsch, M. (Hrsg.). Aachen, 8 S.

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An improved method to detect riblets on surfaces in nanometer scaling using SEM

Reithmeier, E. & Vynnyk, T., 2008, From Nano to Space: Applied Mathematics Inspired by Roland Bulirsch. S. 43-54 12 S.

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Bewertungen von Weißlichtinterferometermessungen mit Kantenteststruktur

Rahlves, M., Fahlbusch, T. & Reithmeier, E., 2008, Tagungsband: Erster Workshop Optische Technologien : [12. November 2007]. Fahlbusch, T. & Pfalz, S. (Hrsg.). Garbsen, 3 S.

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