1 Introduction

Denkena, B., Rienäcker, A., Knoll, G., Bach, F., Maier, H. J., Reithmeier, E. & Dinkelacker, F., 11 Aug. 2014, Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces. S. 1-1 Chapter 1. (Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces).

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2D refractive index field measurements in air in different pressure scenarios

Beermann, R., Quentin, L., Reithmeier, E. & Kästner, M., 2 Nov. 2018, Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V. Yoshizawa, T., Zhang, S., Han, S. & Han, S. (Hrsg.). SPIE, 8 S. 108190E. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 10819).

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2 Project overview

Denkena, B., Rienäcker, A., Knoll, G., Bach, F., Maier, H. J., Reithmeier, E. & Dinkelacker, F., 11 Aug. 2014, Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces. S. 2-8 Chapter 2. (Microstructuring of Thermo-Mechanically Highly Stressed Surfaces).

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3D-Data Acquisition, Processing and Analysis of Gear Shaft Measurements Using Optical Sensors

Gillhaus, R., Kästner, M., Seewig, J. & Reithmeier, E., 2008, Coordinate measuring technique: problems and implementations ; [a selection of papers which were presented during the VIIIth International Science Conference Coordinate Measuring Technique, 31.3.-2.4.2008, Bielsko-Biala]. Ratajczyk, E. (Hrsg.). Bielsko-Biala, 7 S.

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3D geometry measurement of hot cylindric specimen using structured light

Quentin, L., Beermann, R., Pösch, A., Reithmeier, E. & Kästner, M., 26 Juni 2017, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X. Lehmann, P., Goncalves, A. A. & Osten, W. (Hrsg.). SPIE, 6 S. 103290U. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 10329).

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3D-measurement using a Scanning Electron Microscope with 4 Everhart-Thornley Detectors

Vynnyk, T., Scheuer, R. & Reithmeier, E., 1 Juni 2011, Scanning Microscopies 2011: Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and Industrial Sciences. 15 S. 803615. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 8036).

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3D Measurments of microstructures with large lateral dimensions

Bretschneider, M., Krauß, M., Kästner, M. & Reithmeier, E., 2010, 10th International Symposium on Measurement and Quality Control 2010, ISMQC 2010. S. 47-50 4 S.

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3D reconstruction and characterization of the porous microstructure of Al2O3-coatings based on surface data

Loftfield, N., Kästner, M. & Reithmeier, E., 2017, Engineering for a changing world: 59th IWK, Ilmenau Scientific Colloquium, Technische Universität Ilmenau, September 11-15, 2017 : proceedings. Ilmenau, 8 S.

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3D-reconstruction of microstructures on cylinder liners

Engelke, F., Kästner, M. & Reithmeier, E., 2013, Proceedings of the 13th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, EUSPEN 2013. Leach, R. & Shore, P. (Hrsg.). S. 132-135 4 S.

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3D reconstruction of particle agglomerates using multiple scanning electron microscope stereo-pair images

Töberg, S. & Reithmeier, E., 6 Nov. 2018, Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V. Yoshizawa, T., Zhang, S., Han, S. & Han, S. (Hrsg.). SPIE, 9 S. 108190I. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 10819).

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3D registration of depth data of porous surface coatings based on 3D phase correlation and the trimmed ICP algorithm

Loftfield, N., Kästner, M. & Reithmeier, E., 26 Juni 2017, Optical Methods for Inspection, Characterization, and Imaging of Biomaterials III. Ferraro, P., Grilli, S., Ritsch-Marte, M. & Hitzenberger, C. K. (Hrsg.). SPIE, 7 S. 1033310. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 10333).

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3D registration of multiple surface measurements using projected random patterns

Betker, T., Quentin, L., Kästner, M. & Reithmeier, E., 1 Apr. 2020, Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology. de Groot, P. J., Leach, R. K. & Picart, P. (Hrsg.). 8 S. 113520C. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering; Band 11352).

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