Publikationen
- 2006
- Veröffentlicht
Approaches to CMOS integration of epitaxial gadolinium oxide high-K dielectrics
Gottlob, H. D. B., Echtermeyer, T., Mollenhauer, T., Schmidt, M., Efavi, J. K., Wahlbrink, T., Lemme, M. C., Kurz, H., Endres, R., Stefanov, Y., Schwalke, U., Czernohorsky, M., Bugiel, E., Fissel, A. & Osten, H. J., 2006, ESSDERC 2006 : Proceedings of the 36th European Solid-State Device Research Conference. IEEE Computer Society, S. 150-153 4 S. 4099878Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Energy relaxation and anomalies in the thermo-acoustic response of femtosecond laser-excited germanium
Sokolowski-Tinten, K., Shymanovich, U., Nicoul, M., Blums, J., Tarasevitch, A., Horn-von-Hoegen, M., von der Linde, D., Morak, A. & Wietler, T., 2006, International Conference on Ultrafast Phenomena, UP 2006. OSA - The Optical Society, (Optics InfoBase Conference Papers).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Optical properties, elasto-optical effects, and critical-point parameters of biaxially stressed Si1-yCy alloys on Si (001)
Zollner, S., Vartanian, V., Liu, J. P., Zaumseil, P., Osten, H. J., Demkov, A. A. & Nguyen, B. Y., 2006, Third International SiGe Technology and Device Meeting, ISTDM 2006 - Conference Digest. 1715973. (Third International SiGe Technology and Device Meeting, ISTDM 2006 - Conference Digest; Band 2006).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2005
- Veröffentlicht
Surfactant-mediated epitaxy of relaxed low-doped Ge films on Si(001) with low defect densities
Wietler, T. F., Bugiel, E. & Hofmann, K. R., 24 Okt. 2005, in: Applied physics letters. 87, 18, S. 1-3 3 S., 182102.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
MBE growth and properties of epitaxial metal oxides for high-κ dielectrics
Osten, H. J., Bugiel, E., Kirfel, O., Czernohorsky, M. & Fissel, A., 1 Mai 2005, in: Journal of crystal growth. 278, 1-4, S. 18-24 7 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Epitaxial growth of non-cubic silicon
Fissel, A., Wang, C., Bugiel, E. & Osten, H. J., März 2005, in: Microelectronics journal. 36, 3-6, S. 506-509 4 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Advances in surfactant-mediated growth of germanium on silicon: High-quality p-type Ge films on Si
Wietler, T. F., Ott, A., Bugiel, E. & Hofmann, K. R., Feb. 2005, in: Materials Science in Semiconductor Processing. 8, 1-3 SPEC. ISS., S. 73-77 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Ca F2 SiCa F2 resonant tunneling diodes grown by B surfactant-mediated epitaxy
Wang, C. R., Bierkandt, M., Paprotta, S., Wietler, T. & Hofmann, K. R., 14 Jan. 2005, in: Applied physics letters. 86, 3, S. 1-3 3 S., 033111.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Carbon doping of sige
Osten, H. J., 1 Jan. 2005, Silicon Heterostructure Handbook: Materials, Fabrication, Devices, Circuits and Applications of SiGe and Si Strained-Layer Epitaxy. S. 2.9-157-2.9-170Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelwerk › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
A novel thin buffer concept for epitaxial growth of relaxed SiGe layers with low threading dislocation density
Liu, J. P., Wong, L. H., Sohn, D. K., Hsia, L. C., Chan, L., Wong, C. C. & Osten, H. J., Jan. 2005, in: Electrochemical and Solid-State Letters. 8, 2, S. G60-G62Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- 2004
- Veröffentlicht
Boron surfactant enhanced growth of thin Si films on CaF2/SI
Wang, C. R., Müller, B. H., Bugiel, E., Wietler, T., Bierkandt, M., Hofmann, K. R. & Zaumseil, P., 7 Okt. 2004, in: Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films. 22, 6, S. 2246-2250 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Epitaxial high-κ dielectrics on silicon
Osten, H. J., 2004, ASDAM 2004 - Conference Proceedings, 5th International Conference on Semiconductor Devices and Microsystmes. Osvald, J., Hascik, S., Osvald, J. & Hascik, S. (Hrsg.). S. 155-162 8 S. (ASDAM 2004 - Conference Proceedings, 5th International Conference on Semiconductor Devices and Microsystmes).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2003
- Veröffentlicht
Epitaxial praseodymium oxide: a new high-K dielectric
Osten, H. J., Bugiel, E. & Fissel, A., Dez. 2003, in: Solid-State Electronics. 47, 12, S. 2161-2165 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Towards understanding epitaxial growth of alternative high-K dielectrics on Si(001): Application to praseodymium oxide
Fissel, A., Osten, H. J. & Bugiel, E., 5 Aug. 2003, in: Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 21, 4, S. 1765-1772 8 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Epitaxial praseodymium oxide: A new high-K dielectric
Osten, H. J., Bugiel, E. & Fissel, A., 1 Apr. 2003, in: Materials Research Society Symposium - Proceedings. 744, S. 15-24 10 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- 2000
- Veröffentlicht
Carbon doped SiGe heterojunction bipolar transistor module suitable for integration in a deep submicron CMOS process
Osten, H. J., Knoll, D., Heinemann, B., Rucker, H. & Ehwald, K. E., 2000, S. 19. 1 S.Publikation: Konferenzbeitrag › Paper › Forschung › Peer-Review
- 1995
- Veröffentlicht
Growth and properties of strained Si1-x-yGexC y layers
Jain, S. C., Osten, H. J., Dietrich, B. & Rücker, H., 1995, in: Semiconductor Science and Technology. 10, 10, S. 1289-1302 14 S., 001.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Übersichtsarbeit › Forschung › Peer-Review