Publikationen
- 2005
- Veröffentlicht
A New Measurement Method to Characterize Ground Planes
Battermann, S. & Garbe, H., 2005, 2005 International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC. S. 234-238 5 S. 1513506. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 1).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Coupling of Transient Ultra Wide Band Electromagnetic Fields to Complex Electronic Systems
Camp, M., Garbe, H. & Sabath, F., 2005, 2005 International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC. S. 483-488 6 S. 1513563. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 2).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Hardware and Software Simulation of Transient Pulse Impact on Integrated Circuits
Korte, S., Camp, M. & Garbe, H., 2005, 2005 International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC. S. 489-494 6 S. 1513564. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 2).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Influence of PLC Transmission on the Sensitivity of a Short-Wave Receiving Station
Battermann, S. & Garbe, H., 2005, International Symposium on Power Line Communications and Its Applications: 2005. S. 224-227 4 S.Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Transient Emission Behavior of Leaky Section Cables for Wireless Applications
Fisahn, S., Camp, M. & Garbe, H., 2005, 2005 International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC. S. 477-482 6 S. 1513562. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 2).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2004
- Veröffentlicht
Parameter Estimation of Double Exponential Pulses (EMP, UWB) With Least Squares and Nelder Mead Algorithm
Camp, M. & Garbe, H., 30 Nov. 2004, in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 46, 4, S. 675-678 4 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Predicting the Breakdown Behavior of Microcontrollers Under EMP/UWB Impact Using a Statistical Analysis
Camp, M., Gerth, H., Garbe, H. & Haase, H., 24 Aug. 2004, in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 46, 3, S. 368-379 12 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Influence of the Ground Plane Geometry on the Normalized Site Attenuation of an OATS
Battermann, S. & Garbe, H., 2004, IEEE Antennas and Propagation Society Symposium : 2004. Band 1. S. 503-506 4 S. (IEEE Antennas and Propagation Society, AP-S International Symposium (Digest)).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2003
- Veröffentlicht
BiCG-FFT method for shielding effectiveness of PEC enclosures with many apertures
Paoletti, U., Keller, U., Garbe, H. & John, W., 27 Nov. 2003, in: Electronics letters. 39, 24, S. 1711-1712 2 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Impact of near field dispersion on time domain susceptibility tests
Sabath, F. & Garbe, H., 5 Mai 2003, in: Advances in Radio Science. 1, S. 43-47 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Influence of Operation- and Program-States on the Breakdown Effects of Electronics by Impact of EMP and UWB
Camp, M. & Garbe, H., 2003, 2003 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC ´03. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 1032-1035 4 S. 1429090. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 2).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2002
- Veröffentlicht
Calculable Field Generation Using TEM Cells Applied to the Calibration of a Novel E-Field Probe
Kärst, J. P., Groh, C. & Garbe, H., Feb. 2002, in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 44, 1, S. 59-71 13 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Critical review of converting spectral data into prospective bit error rates
Knobloch, A. & Garbe, H., 2002, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 173-178 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Influence of the technology on the destruction effects of semiconducters by impact of EMP and UWB pulses
Camp, M., Garbe, H. & Nitsch, D., 2002, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 87-92 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- 2001
- Veröffentlicht
A voltage controlled emission model of electromagnetic emission of IC for system analysis
Kralicek, P., John, W., De Smedt, R., Vervoort, K. & Garbe, H., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 1197-1202 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Reduction of MoM matrix dimension by transmission line and circuit theory
Keller, U., John, W. & Garbe, H., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 605-610 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
UWB and EMP susceptibility of modern electronics
Camp, M., Garbe, H. & Nitsch, D., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 1015-1020 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- 2000
- Veröffentlicht
TEM waveguides: An evaluation of their applicability for EMI testing
Garbe, H., Sept. 2000, Compliance Engineering, 17, 7, S. 7 7 S.Publikation: Beitrag in nicht-wissenschaftlicher/populärwissenschaftlicher Zeitschrift/Zeitung › Beitrag in Publikumszeitung/-zeitschrift › Transfer
- Veröffentlicht
Improvement of GTEM to OATS correlation
Heidemann, M. & Garbe, H., 2000, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 909-914 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- 1999
- Veröffentlicht
Characterization of loaded TEM-waveguides using time-domain reflectometry
Kärst, J. P. & Garbe, H., 1999, IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 127-132 6 S. 812881. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 1).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review