Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM-7610F mit Bruker EDS System

Ausstattung/Einrichtung: Gerät

Details

Beschreibung

<p class="MsoNormal" style="text-align:justify">Das Rasterelektronenmikroskop ist mit einer Schottky-Feldemissions-Kathode sowie zwei leistungsfähigen EDS-Detektoren ausgestattet. Diese ermöglichen eine qualitative chemische Analyse von Phasen mit hoher Nachweisgrenze und die Erstellung von EDS-Maps von natürlichen oder experimentellen Proben. Die Ortsauflösung liegt für reine bildgebende Analysen im nm-Bereich. Für Aufnahmen stehen folgende Detektoren zur Verfügung: BSE, SEI und CL.</p>

Kontaktinformationen

NameRenat Almeev
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