ICP-OES (Varian VISTA AX CCD Simultaneous ICP-OES)

Ausstattung/Einrichtung: Gerät

Organisationseinheiten

Details

Beschreibung

Element-Konzentrationsbestimmung; Messung flüssiger bzw. Gelöster Proben; Probenzersetzung im 40 MHz Argon-Plasma; aktuell justiert auf wässrige, leicht saure Lösungen; Je nach Element und Matrix sind Messungen ab 0.1 ppm möglich; Grundsätzlich sind alle Elemente außer H, N, O, F und Edelgase messbar